[发明专利]间隙填充方法有效

专利信息
申请号: 201811331123.8 申请日: 2018-11-09
公开(公告)号: CN109786223B 公开(公告)日: 2023-10-27
发明(设计)人: J·F·卡梅伦;K·张;崔莉;D·格林;山田晋太郎 申请(专利权)人: 罗门哈斯电子材料有限责任公司
主分类号: H01L21/027 分类号: H01L21/027;H01L21/033;C07C45/69;C07C49/753
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陈哲锋;胡嘉倩
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 间隙 填充 方法
【权利要求书】:

1.一种方法,其包括:(a)提供半导体装置衬底,所述衬底的表面上具有浮雕图像,所述浮雕图像具有多个待填充的间隙;(b)将涂层组合物施加至所述浮雕图像并填充所述间隙以提供涂层,其中所述涂层组合物包含(i)聚亚芳基寡聚物,其包含一种或多种具有两个或更多个环戊二烯酮部分的第一单体和一种或多种具有芳香族部分和两个或更多个炔基部分的第二单体作为聚合单元;其中所述聚亚芳基寡聚物具有1000至6000Da的Mw、1至2的PDI,以及1:>1的总第一单体比总第二单体的摩尔比;和(i i)一种或多种有机溶剂;(c)使所述涂层固化以形成聚亚芳基膜;(d)在所述聚亚芳基膜上设置无机硬掩模层;(e)在所述无机硬掩模层上设置光致抗蚀剂层;(f)使所述光致抗蚀剂层图案化;(g)将所述图案从所述光致抗蚀剂层转移至所述聚亚芳基膜;以及(h)随后将所述图案转移至所述半导体装置衬底。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述聚亚芳基寡聚物具有2000至3500Da的Mw

3.根据权利要求2所述的方法,其中所述聚亚芳基寡聚物具有1.25至1.75的PDI。

4.根据权利要求1所述的方法,其中所述聚亚芳基寡聚物具有2至3.75的聚合度。

5.根据权利要求1所述的方法,其中所述总第一单体比总第二单体的摩尔比为1:1.01至1:1.5。

6.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括在所述硬掩模层与所述光致抗蚀剂层之间设置有机抗反射剂层。

7.根据权利要求1所述的方法,其中所述聚亚芳基寡聚物进一步包含一种或多种封端单体作为聚合单元。

8.根据权利要求1所述的方法,其中至少一种第一单体具有式(1)中所示的结构

其中每一R10独立地选自H、C1-6烷基和任选取代的C5-20芳基;并且Ar3是具有5至60个碳的芳基部分。

9.根据权利要求1所述的方法,其中至少一种第二单体具有式(5)中所示的结构

其中Ar1和Ar2各自独立地为C5-30芳基部分;每一R独立地选自H和任选地取代的C5-30芳基;每一R1独立地选自C1-10烷基、C1-10卤代烷基、C1-10羟烷基、C1-10烷氧基、CN和卤基;每一Y独立地为单个共价化学键或二价连接基团,所述二价连接基团选自–O-、-S-、-S(=O)-、-S(=O)2-、-C(=O)-、-(C(R9)2)z-、C6-30芳基和–(C(R9)2)z1-(C6-30芳基)-(C(R9)2)z2-;每一R9独立地选自H、羟基、卤基、C1-10烷基、C1-10卤代烷基和C6-30芳基;a1=0至4;每一a2=0至4;b1=1至4;每一b2=0至2;a1+每一a2=0至6;b1+每一b2=2至6;d=0至2;z=1至10;z1=0至10;z2=0至10;以及z1+z2=1至10。

10.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括移除所述聚亚芳基膜的步骤。

11.一种组合物,其包含聚亚芳基寡聚物和有机溶剂;其中所述聚亚芳基寡聚物包含一种或多种具有两个或更多个环戊二烯酮部分的第一单体、一种或多种具有芳香族部分和两个或更多个炔基部分的第二单体,以及一种或多种具有一个亲二烯部分的封端单体作为聚合单元;其中所述聚亚芳基寡聚物具有1000至6000Da的Mw、1至2的PD I,以及1:>1的总第一单体比总第二单体的摩尔比。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于罗门哈斯电子材料有限责任公司,未经罗门哈斯电子材料有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811331123.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top