[发明专利]第三代智能变电站整体环网测试系统有效
申请号: | 201811325342.5 | 申请日: | 2018-11-08 |
公开(公告)号: | CN109639518B | 公开(公告)日: | 2020-05-15 |
发明(设计)人: | 李辉;潘华;毛文奇;黎刚;周挺;彭铖;韩忠晖;刘海峰;朱维钧;余斌;梁文武;严亚兵;徐浩;李刚;臧欣;刘宇;吴晋波;洪权;郭思源;潘伟;许立强;杨帅;杜春林;欧阳力;曹惜文;欧亮;刘任玉;刘继军 | 申请(专利权)人: | 国网湖南省电力有限公司;国网湖南省电力有限公司电力科学研究院;国家电网有限公司 |
主分类号: | H04L12/26 | 分类号: | H04L12/26;H02J13/00 |
代理公司: | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 | 代理人: | 谭武艺 |
地址: | 410004 *** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 第三代 智能 变电站 整体 测试 系统 | ||
1.一种第三代智能变电站整体环网测试系统,其特征在于:包括测试主机(1)和多个就地测试子机(2),所述多个就地测试子机(2)包括多个开关量就地测试子机(21)以及多个模拟量就地测试子机(22),开关量就地测试子机(21)和被测试整体环网中的开关量就地模块一一对应,模拟量就地测试子机(22)和被测试整体环网中的模拟量就地模块一一对应,所述测试主机(1)包括控制命令输出端口、同步对时模块以及HSR环网数据收发接口,所述测试主机(1)的控制命令输出端口以及同步对时模块的输出端口各通过一路通讯线路和每一个就地测试子机(2)相连,每一个就地测试子机(2)的输出端和被测试整体环网中对应的开关量就地模块或者模拟量就地模块的信号输入端相连,所述测试主机(1)的HSR环网数据收发接口和被测试整体环网中的接口模块相连;
所述第三代智能变电站整体环网测试系统进行整体环网延时测试的步骤包括:
1)测试主机(1)通过同步对时模块向各个就地测试子机(2)发送对时信号,各个就地测试子机(2)收到对时信号后完成和测试主机(1)的时间同步;
2)测试主机(1)设置目标就地模块的HSR报文的MAC地址,所述目标就地模块包括被测试整体环网中的开关量就地模块以及模拟量就地模块;
3)测试主机(1)通过控制命令输出端口向各个目标就地模块对应的就地测试子机(2)发送开关量或模拟量输出命令,并记录命令发送时刻T1;
4)各个目标就地模块对应的就地测试子机(2)向被测试整体环网中对应的目标就地模块转发刀闸/断路器开关位置或者模拟量电压/电流信号,被测试整体环网中的目标就地模块收到刀闸/断路器开关位置或者模拟量电压/电流信号后将其转换为HSR报文输出;该HSR报文在环网中依次经过其他目标就地模块,且每经过一个其他目标就地模块时通过时域计算更新固定通道延时T3,最终该HSR报文通过被测试整体环网中的接口模块发送到测试主机(1);
5)测试主机(1)通过HSR环网数据收发接口收取该HSR报文,并记录收取该HSR报文的时刻T2,计算出该HSR报文在环网中的延时|T2-T1|,其中T1为命令发送时刻,T2为收到该HSR报文的时刻,判断延时|T2-T1|小于等于预设阈值是否成立,如果成立则判定被测试整体环网延时正常,否则判定被测试整体环网延时异常;
6)获取该HSR报文的固定通道延时T3,判断延时|T2-T1|和固定通道延时T3两者是否一致,如果一致则判定被测试整体环网的固定延时计算补偿功能正常,否则判定被测试整体环网的固定延时计算补偿功能异常;
7)获取测试结果并生成测试报告,结束并退出。
2.根据权利要求1所述的第三代智能变电站整体环网测试系统,其特征在于:被测试整体环网包括接口模块和多个就地模块,所述多个就地模块分别为开关量就地模块以及模拟量就地模块,被测试整体环网中的就地模块首尾相连形成链状结构,且链状结构中相邻节点之间存在正向环网链路、反向环网链路共两条HSR环网链路,链首以及链尾的就地模块分别将正向环网链路、反向环网链路连接到接口模块,所述测试主机(1)包括四个HSR环网数据收发接口,且其中两个HSR环网数据收发接口接入正向环网链路形成整体环网,另外两个HSR环网数据收发接口接入反向环网链路形成整体环网。
3.根据权利要求1所述的第三代智能变电站整体环网测试系统,其特征在于:所述测试主机(1)的控制命令输出端口、同步对时模块的输出端口均为光纤接口,且控制命令输出端口、同步对时模块的输出端口各通过一路光纤和一个就地测试子机(2)相连。
4.根据权利要求1所述的第三代智能变电站整体环网测试系统,其特征在于:所述同步对时模块为FPGA授时模块。
5.根据权利要求1~4中任意一项所述的第三代智能变电站整体环网测试系统,其特征在于:所述开关量就地测试子机(21)包括32路开入量硬接点和32路开出量硬接点,开入量硬接点和开出量硬接点全部采用光耦结构开关量接点,且开入量硬接点和开出量硬接点的接点闭合时间不超过100ns。
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