[发明专利]闪烁体、其形成方法和放射线检测装置在审
申请号: | 201811309709.4 | 申请日: | 2018-11-06 |
公开(公告)号: | CN109765602A | 公开(公告)日: | 2019-05-17 |
发明(设计)人: | 大池智之;猿田尚志郎 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | G01T1/202 | 分类号: | G01T1/202 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 杨小明 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 闪烁体 放射线检测装置 母体材料 添加剂 熔点 碱金属卤化物 柱状晶体结构 贵金属 晶体结构 气相沉积 电离 基板 柱体 金属 | ||
本发明涉及闪烁体、其形成方法和放射线检测装置。提供一种闪烁体,具有气相沉积于基板上的柱状晶体结构,其中,晶体结构的各柱体包含作为母体材料的碱金属卤化物,并且还包含作为具有比氢(H)低的电离倾向的金属的贵金属的化合物作为添加剂,其中所述添加剂具有比母体材料低的熔点。
技术领域
本发明涉及闪烁体、其形成方法和放射线(radiation)检测装置。
背景技术
一些放射线检测装置(或放射线成像装置)被布置为通过使用闪烁体将放射线转换成光并且通过使用光电转换元件检测所述光。闪烁体有时根据放射线的照射改变特性。这种现象也被称为“明亮灼烧(bright burn)”(参见日本专利公开No.2016-88988)。
作为抑制明亮灼烧的方法的例子,日本专利公开No.2016-88988公开了使闪烁体比用于提高闪烁体的发光效率的活化剂多地包含作为一价阳离子的原子的方法。但是,这种组成将导致闪烁体的结晶性的劣化或者闪烁体中的光的透过效率的下降。
发明内容
本发明提供同时有利于抑制明亮灼烧和提高闪烁体的质量的技术。
本发明的第一方面提供一种闪烁体,具有气相沉积于基板上的柱状晶体结构,其中,晶体结构的各柱体包含作为母体材料的碱金属卤化物(alkali halide metalcompound),并且还包含贵金属的化合物作为添加剂,所述贵金属为具有比氢(H)低的电离倾向的金属,其中所述添加剂具有比母体材料低的熔点。
本发明的第二方面提供一种闪烁体,具有气相沉积于基板上的柱状晶体结构,其中,晶体结构的各柱体包含作为母体材料的碱金属卤化物,并且还以闪烁光的亮度被维持的浓度包含贵金属的化合物作为具有比母体材料低的熔点的添加剂,所述贵金属为具有比氢(H)低的电离倾向的金属。
本发明的第三方面提供一种形成闪烁体的方法,所述方法包括:制备基板;以及,通过在基板上气相沉积碱金属卤化物和作为具有比氢(H)低的电离倾向的金属的贵金属,形成具有柱状晶体结构的闪烁体,其中,晶体结构的各柱体包含作为母体材料的碱金属卤化物,并且还包含所述贵金属的化合物作为具有比母体材料低的熔点的添加剂。
从参照附图对示例性实施例的以下描述,本发明的其它特征将变得清晰。
附图说明
图1A和图1B是用于解释评价明亮灼烧的方法的例子的示图;
图2是用于解释形成闪烁体的方法的例子的示图;
图3是用于比较和解释基于几种条件的实验结果的示图;
图4是用于解释放射线检测装置的使用的例子的示图。
具体实施方式
以下将参照附图描述本发明的优选实施例。注意,各附图仅是出于描述结构或配置的目的例示的,并且示出的各部件的尺寸未必反映实际的尺寸。另外,相同的附图标记在各附图中表示相同的要素,并且将省略重复的描述。
图1A和图1B是用于解释评价明亮灼烧的方法的例子的示意图。如图1A所示,关于通过将气相沉积于基板1上的闪烁体2接合到上面排列了多个光电转换元件的传感器基板(传感器单元)3上获得的放射线检测装置AP,评价明亮灼烧。闪烁体2在接收放射线时产生光(闪烁光)。传感器基板3检测该光。假定放射线检测装置AP可以通过该配置检测放射线。
一般通过使用气相沉积装置在接近真空环境(例如,0.01Pa或更小)下通过气相沉积方法在基板1上形成闪烁体2,并且闪烁体2在这种情况下具有柱状(针状)晶体结构。晶体结构的各个柱体包括作为母体材料的碱金属卤化物。假定在这种情况下碘化铯(CsI)被用作母体材料。另外,在这种情况下,闪烁体2的各个柱体包含作为用于提高发光效率的活化剂的铊(Tl)。
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