[发明专利]晶体硅片表面金字塔绒面制备方法在审
申请号: | 201811293773.8 | 申请日: | 2018-11-01 |
公开(公告)号: | CN109599458A | 公开(公告)日: | 2019-04-09 |
发明(设计)人: | 彭奎庆;付昊鑫;霍晨亮 | 申请(专利权)人: | 北京师范大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0236;C30B33/10 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100875 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 制备 金字塔绒面 晶体硅片 金字塔阵列 晶体硅表面 太阳能电池 微纳米尺度 新材料领域 硅片表面 绒面结构 微纳米 金字塔 吸收 应用 | ||
1.晶体硅片表面金字塔绒面制备方法,其特征在于:所述方法依次按如下步骤进行,
(1)将表面清洁的晶体硅片放入含有铜盐(氯化铜/硫酸铜/硝酸铜)、氯化锂和氢氟酸混合溶液的容器中,在20-90℃下反应10-100分钟即可在硅片表面腐蚀出大面积微纳米正金字塔绒面,然后将腐蚀后的硅片放入硝酸或王水溶液里面浸泡去掉表面残存的铜颗粒并用去离子水清洗;
(2)将表面清洁的晶体硅片放入含有铜盐(氯化铜/硫酸铜/硝酸铜)、氯化锰和氢氟酸混合溶液的容器中,在20-90℃下反应10-100分钟即可在硅片表面腐蚀出大面积微纳米正金字塔绒面,然后将腐蚀后的硅片放入硝酸或王水溶液里面浸泡去掉表面残存的铜颗粒并用去离子水清洗;
(3)将表面清洁的晶体硅片放入含有铜盐(氯化铜/硫酸铜/硝酸铜)、氯化铁和氢氟酸混合溶液的容器中,在20-90℃下反应10-100分钟即可在硅片表面腐蚀出大面积微纳米正金字塔绒面,然后将腐蚀后的硅片放入硝酸或王水溶液里面浸泡去掉表面残存的铜颗粒并用去离子水清洗;
(4)将表面清洁的晶体硅片放入含有铜盐(氯化铜/硫酸铜/硝酸铜)、氢溴酸和氢氟酸混合溶液的容器中,在20-90℃下反应10-100分钟即可在硅片表面腐蚀出大面积微纳米正金字塔绒面,然后将腐蚀后的硅片放入硝酸或王水溶液里面浸泡去掉表面残存的铜颗粒并用去离子水清洗;
(5)将表面清洁的晶体硅片放入含有铜盐(氯化铜/硫酸铜/硝酸铜)、氢碘酸和氢氟酸混合溶液的容器中,在20-90℃下反应10-100分钟即可在硅片表面腐蚀出大面积微纳米正金字塔绒面,然后将腐蚀后的硅片放入硝酸或王水溶液里面浸泡去掉表面残存的铜颗粒并用去离子水清洗。
2.根据权利要求1所述的晶体硅片表面金字塔绒面制备方法,所述步骤(2)中的铜盐(氯化铜/硫酸铜/硝酸铜)浓度为0.001-0.1mol/L,氯化锂浓度为0.5-5.0mol/L,氢氟酸浓度为1-10mol/L。
3.根据权利要求1所述的晶体硅片表面金字塔绒面制备方法,所述步骤(4)中的铜盐(氯化铜/硫酸铜/硝酸铜)浓度为0.001-0.1mol/L,氯化锰浓度为0.5-4.0mol/L,氢氟酸浓度为1-10mol/L。
4.根据权利要求1所述的晶体硅片表面金字塔绒面制备方法,所述步骤(1)中的铜盐(氯化铜/硫酸铜/硝酸铜)浓度为0.001-0.1mol/L,氯化铁浓度为0.05-2.0mol/L,氢氟酸浓度为1-10mol/L。
5.根据权利要求1所述的晶体硅片表面金字塔绒面制备方法,所述步骤(5)中的铜盐(氯化铜/硫酸铜/硝酸铜)浓度为0.001-0.1mol/L,氢溴酸浓度为0.5-5.0mol/L,氢氟酸浓度为1-10mol/L。
6.根据权利要求1所述的晶体硅片表面金字塔绒面制备方法,所述步骤(5)中的铜盐(氯化铜/硫酸铜/硝酸铜)浓度为0.001-0.1mol/L,氢碘酸浓度为0.5-5.0mol/L,氢氟酸浓度为1-10mol/L。
7.根据权利要求1所述的晶体硅片表面金字塔绒面制备方法,所述硅片既可以是单晶硅片又可以是多晶硅片。
8.根据权利要求1所述的晶体硅片表面金字塔绒面制备方法,所述步骤(1)、(2)、(3)、(4)和(5)得到的微纳金字塔绒面可用于硅太阳能电池等应用。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的