[发明专利]基于高精度机器视觉的显示面板的检测方法在审

专利信息
申请号: 201811287194.2 申请日: 2018-10-31
公开(公告)号: CN109166506A 公开(公告)日: 2019-01-08
发明(设计)人: 刘艳伟 申请(专利权)人: 苏州旷视智能科技有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 代理人: 王闯
地址: 215000 江苏省苏州市苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 显示面板 产生模块 检测信号 温度侦测 检测 机器视觉 显示区域 拦截 控制显示面板 施加 电源负电压 公共电极线 不良位置 持续显示 电性连接 记录显示 亮线缺陷 模块检测 扫描信号 实际区域 输出电源 纯白色 数据线 微短路 正电压 短路 拍摄
【说明书】:

发明公开了一种基于高精度机器视觉的显示面板的检测方法,包括步骤1、显示面板分别与检测信号产生模块与温度侦测模块电性连接;步骤2、调节施加到公共电极线上的电压以及施加到数据线上的电压;步骤3、检测信号产生模块向显示面板输出电源正电压、电源负电压、检测用数据和扫描信号,检测显示面板是否存在亮点、与亮线缺陷;步骤4、检测信号产生模块控制显示面板持续显示纯白色画面,同时通过温度侦测模块拍摄并记录显示面板各显示区域的温度;步骤5、设定阈值温度,通过温度侦测模块检测任意显示区域的温度得到实际区域温度,对超过该阈值温度的显示面板区域进行拦截。能显示面板不良位置、拦截短路及微短路状况,提高了面板的检测效率。

技术领域

本发明涉及一种基于高精度机器视觉的显示面板的检测方法。

背景技术

目前随着面板尺寸加大,分辨率增高,像素增多且单个像素变小,线与线的布线走线都相当密集,大大提高了成膜制造的困难度,在面板制造过程中,有大量的面板内的栅极线与公共电极线的短路问题造成了不良率的增高,对于如何能快速检测到显示面板的不良位置、以及如何及时拦截存在短路及微短路状况的显示面板,防止其流向后端的装配制程,是提高显示面板检测效率的关键因素。

发明内容

为克服上述缺点,本发明的目的在于提供一种用以显示面板不良位置、拦截短路及微短路状况、提高面板的检测效率的基于高精度机器视觉的显示面板的检测方法。

为了达到以上目的,本发明采用的技术方案是:一种基于高精度机器视觉的显示面板的检测方法,所述显示面板包括阵列基板,所述阵列基板上具有多条数据线、设置在每条所述数据线末端的短路环以及将各短路环串联的公共电极线,所述阵列基板上还包括与所述数据线交叉设置的多条栅线,所述栅线和所述数据线设置在不同层中,所述开关控制线与所述栅线同层设置,所述检测方法包括:步骤1、所述显示面板分别与检测信号产生模块与温度侦测模块电性连接;步骤2、调节施加到所述公共电极线上的电压以及施加到所述数据线上的电压;步骤3、所述检测信号产生模块向显示面板输出电源正电压、电源负电压、检测用数据和扫描信号,检测显示面板是否存在亮点、与亮线缺陷;步骤4、所述检测信号产生模块控制所述显示面板持续显示纯白色画面,同时通过所述温度侦测模块拍摄并记录显示面板各显示区域的温度;步骤5、设定阈值温度,通过温度侦测模块检测任意显示区域的温度得到实际区域温度,对超过该阈值温度的显示面板的区域进行拦截。

本发明基于高精度机器视觉的显示面板的检测方法的有益效果是,通过施加调变驱动电压后,就可判断面板显示不良类型与面板何处不良造成的,有利于工程人员快速判断不良类型并快速检修,并且通过设置温度侦测模块拍摄并记录显示面板各显示区域的温度,当该温度侦测模块侦测到显示面板某一显示区域的温度超过设定的阈值温度时,则存在短路及微短路的状况,从而能够有效地检测出并及时拦截存在短路及微短路状况的显示面板,防止其流向后端的装配制程,继而提高面板的检测效率。

优选地,还包括步骤6、通过所述阻抗检测模块对被拦截的显示面板中超过阈值温度的显示区域进行阻抗检测,找出该被拦截的显示面板中出现短路及微短路的位置。进一步通过设置阻抗检测模块来对被拦截的显示面板中超过阈值温度的显示区域进行阻抗检测,找出该被拦截的显示面板中出现短路及微短路的位置,以进行准确的修复,提高面板良率。

优选地,所述数据线的末端与相应的短路环之间的开关单元,所述开关单元用于在测试阶段将所述数据线与相应的所述短路环断开。开关单元可以关断,使得数据线与相应的短路环断开,因而,相邻的数据线并没有通过公共电极线和短路环间接相连。这种结构下,即使某一条数据线发生不良,与其相邻数据线上的高电压信号不会通过公共电极线和短路环流入发生不良的数据线上,从而可以准确地检测出发生不良的数据线的位置,提高检出率和准确率。阵列基板测试完成后,开关单元导通,使得数据线与相应的短路环相连,因而当某一条数据线上的由于静电而产生瞬时高电平时,该高电平信号可以通过相应的短路环流入公共电极线,从而降低数据线上的高电平,避免高电平信号对像素单元内的损伤。

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