[发明专利]锂电池涂布缺陷检测方法、系统、设备及存储介质

权利要求书

1.一种锂电池涂布缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

采集所述锂电池的极片图像，其中，锂电池极片显示为：涂层区与涂层区之间间隔有基材区；

对所述极片图像进行拼接处理，得到目标图像，并确定锂电池极片的电池周期，所述电池周期为第一基材区域和涂层区域；具体为：识别并提取出极片图像中的第一基材区域、涂层区域和第二基材区域；顺次拼接第一基材区域、涂层区域和第二基材区域，得到目标图像；同时，根据基材区域的箔区高度参数，确定锂电池极片的电池周期；

在所述电池周期范围内，对所述目标图像进行缺陷提取，得到缺陷区：对所述目标图像的基材区域进行缺陷提取，得到所述基材区域的缺陷区；以及，对所述目标图像的涂层区域进行缺陷提取，得到所述涂层区域的缺陷区；

其中，对所述目标图像的基材区域进行缺陷提取，得到所述基材区域的缺陷区，具体为：在所述目标图像的基材区域提取灰度值符合第一阈值范围的黑点；拟合所述灰度值符合第一阈值范围的黑点，得到所述基材区域的缺陷区；

对所述目标图像的涂层区域进行缺陷提取，得到所述涂层区域的缺陷区，具体为：

在所述目标图像的涂层区域提取灰度值符合第二阈值范围的黑点；拟合所述灰度值符合第二阈值范围的黑点，得到所述涂层区域的第一缺陷区；

在所述目标图像的涂层区域提取灰度值符合第三阈值范围的亮点；拟合所述灰度值符合第三阈值范围的亮点，得到所述涂层区域的第二缺陷区；

计算所述缺陷区的特征值，所述特征值包括缺陷区梯度和暗区边缘梯度，所述暗区边缘梯度为在缺陷区内暗区的边缘灰度的最大变化率；当所述特征值为缺陷区梯度时，计算所述缺陷区的特征值，具体为：计算所述缺陷区的平均灰度值，及所述缺陷区向外扩展第一距离的正常区域的平均灰度值；所述缺陷区梯度为所述缺陷区和所述正常区域的平均灰度值的差值；

根据所述特征值，将所述缺陷区进行分类匹配，确定所述缺陷区的类型。

2.根据权利要求1所述的锂电池涂布缺陷检测方法，其特征在于，根据所述特征值，将所述缺陷区进行分类匹配，确定所述缺陷区的类型，具体为：

预设缺陷类型，并确定每一缺陷类型的特征值；

将计算得到的所述缺陷区的特征值与所述每一缺陷类型的特征值进行匹配；确定所述缺陷区的类型。

3.一种锂电池涂布缺陷检测系统，所述系统用于实现权利要求1至2中任意一项所述的锂电池涂布缺陷检测方法，其特征在于，所述系统包括：

图像采集单元，用于采集所述锂电池的极片图像；

目标图像确定单元，用于对所述极片图像进行拼接处理，得到目标图像，并确定锂电池极片的电池周期；

缺陷提取单元，用于在所述电池周期范围内，对所述目标图像进行缺陷提取，得到缺陷区：对所述目标图像的基材区域进行缺陷提取，得到所述基材区域的缺陷区；以及，对所述目标图像的涂层区域进行缺陷提取，得到所述涂层区域的缺陷区；

其中，对所述目标图像的基材区域进行缺陷提取，得到所述基材区域的缺陷区，具体为：在所述目标图像的基材区域提取灰度值符合第一阈值范围的黑点；拟合所述灰度值符合第一阈值范围的黑点；得到所述基材区域的缺陷区；

对所述目标图像的涂层区域进行缺陷提取，得到所述涂层区域的缺陷区，具体为：

在所述目标图像的涂层区域提取灰度值符合第二阈值范围的黑点；拟合所述灰度值符合第二阈值范围的黑点，得到所述涂层区域的第一缺陷区；

在所述目标图像的涂层区域提取灰度值符合第三阈值范围的亮点；拟合所述灰度值符合第三阈值范围的亮点，得到所述涂层区域的第二缺陷区；

缺陷区匹配单元，用于计算所述缺陷区的特征值，根据所述特征值，将所述缺陷区进行分类匹配，确定所述缺陷区的类型。

4.一种锂电池涂布缺陷检测终端设备，其特征在于，包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中且被配置为由所述处理器执行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至2中任意一项所述的锂电池涂布缺陷检测方法。

5.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质包括存储的计算机程序，其中，在所述计算机程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行如权利要求1至2中任意一项所述的锂电池涂布缺陷检测方法。