[发明专利]关键点位置的确定方法、装置、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种关键点位置的确定方法，其特征在于，包括：

获取待检测图像中目标关键点的检测位置，以及所述待检测图像的前一帧图像中所述目标关键点的应用位置，所述检测位置是利用关键点检测算法得到的关键点的位置，所述应用位置是最终确定的关键点的位置；

根据所述待检测图像中所述目标关键点的检测位置和所述前一帧图像中所述目标关键点的应用位置，确定所述目标关键点的位移；

根据所述目标关键点的位移，确定所述待检测图像中所述目标关键点的应用位置。

2.如权利要求1所述的关键点位置的确定方法，其特征在于，根据所述目标关键点的位移，确定所述待检测图像中所述目标关键点的应用位置，包括：

根据所述目标关键点的位移，确定调整参数；

根据所述目标关键点的位移以及所述调整参数，确定所述待检测图像中所述目标关键点的应用位置。

3.如权利要求2所述的关键点位置的确定方法，其特征在于，通过以下公式确定所述待检测图像中所述目标关键点的应用位置：

x＝x0+(x1-x0)*K，K∈(0,1]；

其中，x为所述待检测图像中所述目标关键点的应用位置，x0为所述前一帧图像中所述目标关键点的应用位置，x1为所述待检测图像中所述目标关键点的检测位置，K为所述调整参数。

4.如权利要求2所述的关键点位置的确定方法，其特征在于，在根据所述目标关键点的位移，确定调整参数之前，还包括：

获取所述待检测图像中与所述目标关键点相关联的至少一个参考关键点的检测位置，以及所述前一帧图像中所述至少一个参考关键点的应用位置；

根据所述待检测图像中所述至少一个参考关键点的检测位置和所述前一帧图像中所述至少一个参考关键点的应用位置，确定每个参考关键点的位移；

根据所述目标关键点的位移，确定调整参数，包括：

根据所述目标关键点的位移和所述每个参考关键点的位移，确定调整参数。

5.如权利要求4所述的关键点位置的确定方法，其特征在于，所述至少一个参考关键点为与所述目标关键点相连的关键点。

6.如权利要求4所述的关键点位置的确定方法，其特征在于，根据所述目标关键点的位移和所述每个参考关键点的位移，确定调整参数，包括：

根据所述目标关键点的位移，生成第一调整参数；

根据所述每个参考关键点的位移，生成第二调整参数；

根据所述第一调整参数和所述第二调整参数，生成所述调整参数。

7.如权利要求6所述的关键点位置的确定方法，其特征在于，通过以下公式生成所述第一调整参数：

其中，K1为所述第一调整参数，x1为所述待检测图像中所述目标关键点的检测位置，x0为所述前一帧图像中所述目标关键点的应用位置，a和b为常数。

8.如权利要求6所述的关键点位置的确定方法，其特征在于，通过以下公式生成所述第二调整参数：

K2＝f(|(y11-y10)+(y21-y20)+…+(yn1-yn0)|)，

其中，K2为所述第二调整参数，y11、y21、…、yn1为所述待检测图像中n个所述参考关键点的检测位置，y10、y20、…、yn0为所述前一帧图像中n个所述参考关键点的应用位置，n为大于或者等于1的正整数，yn0和yn1分别为同一参考关键点在所述前一帧图像中的应用位置和在所述待检测图像中的检测位置，a和b为常数。

9.如权利要求6所述的关键点位置的确定方法，其特征在于，通过以下公式生成所述调整参数：

K＝K1*K2；

其中，K为所述调整参数，K1为所述第一调整参数，K2为第二调整参数。