[发明专利]一种极片电阻测量仪、系统及方法

权利要求书

1.一种极片电阻测量仪，其特征在于，包括：

控制箱；

设置于所述控制箱上的底座；

设置于所述底座上的下压头；

安装于所述底座上的施压装置，所述施压装置具有与所述下压头相对设置的上压头，以通过所述上压头对放置于所述下压头上的待测极片电阻施加可变压力；

压力传感器，设置于所述施压装置上，用于获取待测极片电阻被施加的压力；

其中，所述控制箱包括控制主板、与所述控制主板电气连接的电阻测量主板、气压调节阀以及液晶显示屏；所述电阻测量主板与所述上压头及下压头连接；所述气压调节阀与所述施压装置连通。

2.根据权利要求1所述的极片电阻值测量仪，其特征在于，所述施压装置包括活动气缸、气缸连杆、第一弹簧、上下活动板和上下压头；

所述活动气缸的输出端与气缸连杆通过所述上固定板相连，所述气缸连杆经所述上活动板向下伸出，所述第一弹簧分两侧套设于下述直线轴承的下活动板以上部分，且可沿着下述直线轴承上下滑动，起到缓冲作用；所述上下活动板分别位于所述第一弹簧的上下，所述上压头安装在下活动板下方且与安装在下述下固定板上方的下压头对齐。

还包括：第二弹簧、上下固定板、直线轴承；

所述第二弹簧分两侧套设于所述直线轴承的下活动板以下部分，且可沿着所述直线轴承上下滑动，起到缓冲作用；所述直线轴承分两侧垂直支撑在所述上下固定板之间，且所述上下固定板位于所述控制箱上方；所述施压装置通过下固定板安装在所述底座上方。

3.根据权利要求1所述的极片电阻值测量仪，其特征在于，所述上压头与所述下压头采用铜材质制成，且在表面进行了镀金工艺处理。

4.根据权利要求1所述的极片电阻值测量仪，其特征在于，还包括保护箱体，所述保护箱体设置在所述底座上，并罩设所述施压装置；其中，所述保护箱体的前侧设置有箱门，所述箱门上设置有透明窗口。

5.根据权利要求4所述的极片电阻值测量仪，其特征在于，还包括与所述控制主板连接的温湿度传感器，所述温湿度传感器设置于所述保护箱体内。

6.根据权利要求1所述的极片电阻值测量仪，其特征在于，还包括设置于所述控制箱底部的四个调节脚垫，以通过所述调节脚垫保证整体处于水平位置上。

7.根据权利要求1所述的极片电阻值测量仪，其特征在于，还包括电源及电磁阀，所述电源及所述电磁阀均与所述控制主板电气连接。

8.一种极片电阻值测量系统，其特征在于，包括控制终端及如权利要求1至7任意一项所述的极片电阻值测量仪；所述控制终端通过串口与所述极片电阻值测量仪的控制主板连接；其中：

所述控制终端上安装有控制软件，所述控制终端，用于接收用户基于所述控制软件的界面输入的控制参数，并将所述控制参数发送给所述控制主板；

所述控制主板，用于基于所述控制参数控制所述气压调节阀的输出气压，从而实现对施压装置的施压的控制。

9.根据权利要求8所述的极片电阻值测量系统，其特征在于，所述控制参数至少包括以下其中之一：施加的压力、施加压力的持续时间、施加压力的周期。

10.根据权利要求1至7任意一项所述的极片电阻值测量仪的极片电阻电导率测试方法，其特征在于，包括

S1:在待测极片电阻的同一位置下，采用N个不同正向压强参数进行测试，以获得所述待测极片电阻在每个正向压强参数下的测试电阻值趋于稳定的N个第一相对时间；其中，对于每个正向压强参数，每隔预定时间采集所述待测极片电阻的测试电阻值，并根据采集的多个测试电阻值获得测试电阻值趋于稳定的第一相对时间；

S2:将获得的N个第一相对时间的最大值作为所述待测极片电阻共同趋于稳定的第二相对时间；

S3:在同一位置，根据M个不同的正向压强参数以及所述第二相对时间，采集所述待测极片电阻在不同正向压强参数下的M个电导率值；根据所述M个电导率值获取在该位置下的最佳电导率以及与所述最佳电导率相应的参考正向压强参数；

S4:在不同位置，根据所述参考正向压强参数以及第二相对时间，采集所述待测极片电阻在不同位置的电导率值，以计算出不同位置下的电导率的RSD％。