[发明专利]点胶方法和点胶装置

权利要求书

1.一种点胶方法，用于对电子设备的后盖上的装饰面进行点胶，所述装饰面构成所述后盖的部分外观面，所述后盖还包括与所述装饰面相背设置的背面，其特征在于，所述点胶方法包括：

对所述装饰面进行扫描，提取所述装饰面的延伸路径，并根据所述装饰面的延伸路径得到对所述装饰面进行点胶的点胶胶路轨迹；

根据所述点胶胶路轨迹对所述装饰面进行点胶，以形成覆盖所述装饰面的第一胶体，并对所述第一胶体进行固化，以得到第一保护层；

对所述后盖除去所述装饰面的其它外观面进行处理；

当所述后盖除去所述装饰面的其它外观面处理完毕后，去除所述装饰面上的所述第一保护层；当所述装饰面与所述背面之间的夹角为预设锐角时，获取所述点胶胶路轨迹包括：

采用线激光对第三边和第四边进行扫描，其中，第三边和第四边围设形成所述装饰面，且所述第三边与所述背面之间的第一距离小于所述第四边与所述背面之间的第二距离；

在所述第三边上每间隔第三预设距离提取一个第三采样点以及在所述第四边上每间隔第四预设距离提取一个第四采样点，所述第三采样点与所述第四采样点一一对应；

获取所述第三采样点和与之相对应的所述第四采样点的中点，选取多个所述中点和与之相对应的多个所述第四采样点之间的第二目标采样点，其中，第二目标采样点与所述第四边之间的距离与所述预设锐角之间呈负相关；

将所有所述第二目标采样点按照顺序依次平滑连接，以得到所述装饰面的点胶胶路轨迹；当沿所述点胶胶路轨迹向所述装饰面点胶时，胶体自所述第四边的一侧朝向邻近所述第三边的一侧流动并覆盖于所述装饰面上。

2.如权利要求1所述的点胶方法，其特征在于，所述后盖还包括与所述装饰面相背设置的背面，当所述装饰面与所述背面平行时，所述“对所述装饰面进行扫描，提取所述装饰面的延伸路径，并根据所述装饰面的延伸路径得到对所述装饰面进行点胶的点胶胶路轨迹”包括：

采用线激光对第一边和第二边进行扫描，其中，第一边和第二边围设形成所述装饰面；

在所述第一边上每间隔第一预设距离提取一个第一采样点以及在所述第二边上每间隔第二预设距离提取一个第二采样点，所述第一采样点与所述第二采样点一一对应；

获取所述第一采样点和与之相对应的所述第二采样点的中点，将所述中点作为第一目标采样点，将所有的所述第一目标采样点按照顺序依次平滑连接，以得到所述点胶胶路轨迹。

3.如权利要求2所述的点胶方法，其特征在于，所述“根据所述点胶胶路轨迹对所述装饰面进行点胶，以形成覆盖所述装饰面的第一胶体，并对所述第一胶体进行固化，以得到第一保护层”包括：

根据所述点胶胶路轨迹沿预设方向对所述装饰面进行点胶，以形成覆盖所述装饰面的第一介质层，并对所述第一介质层进行固化以得到第一覆盖层；

对所述第一覆盖层进行扫描，以提取所述第一覆盖层的第一点胶轨迹；

根据所述第一点胶轨迹沿预设方向对所述第一覆盖层进行点胶，以形成覆盖所述第一覆盖层的第二介质层，并对所述第二介质层进行固化以得到第二覆盖层，将所述第一覆盖层和所述第二覆盖层共同作为所述第一保护层。

4.如权利要求3所述的点胶方法，其特征在于，以第一速度对所述装饰面进行点胶，且以第二速度对所述第一覆盖层进行点胶，所述第一速度大于所述第二速度。

5.如权利要求4所述的点胶方法，其特征在于，所述“根据所述点胶胶路轨迹对所述装饰面进行点胶，以形成覆盖所述装饰面的第一胶体，并对所述第一胶体进行固化，以得到第一保护层”包括：

根据所述点胶胶路轨迹沿预设方向对所述装饰面上的预设区域进行点胶，以形成覆盖所述预设区域的第三介质层；

对所述第三介质层进行缺陷判断，所述缺陷包括胶体外偏、胶体内偏以及断胶中的一种或多种；

根据所述缺陷对所述点胶胶路轨迹以及点胶的速度进行矫正，以获取第二点胶轨迹以及目标点胶速度；

根据所述第二点胶轨迹以及目标点胶速度对所述装饰面除去所述预设区域的剩下区域进行点胶，以形成覆盖所述剩下区域的第四介质层；

对所述第四介质层进行固化，以得到第三覆盖层，将所述第三覆盖层作为所述第一保护层。