[发明专利]一种用于热分析仪器的冷却器

说明书

本发明提供一种用于热分析仪器的冷却器，包括：中空，且一端封闭为传冷面、一端开放的导冷件；中空且隔着间隙嵌套于所述导冷件内部的冷媒喷头；位于所述导冷件的开放的一端侧的冷媒入口管和冷媒出口管；以及与所述导冷件的开放的一端、以及与所述冷媒喷头中远离所述传冷面的一端分别密封连接的过渡接头；所述冷媒喷头的内壁与所述过渡接头形成了冷媒内腔；所述冷媒喷头的外壁与所述导冷件的内壁形成了冷媒外腔；所述冷媒入口管与所述冷媒内腔相连通，所述冷媒出口管与所述冷媒外腔相连通。根据本发明，可快速将冷量传导给热分析仪器的炉体，而且通过形成为内外双层的结构，能大幅度提升制冷效果。

技术领域

本发明涉及一种用于热分析仪器的冷却器。

背景技术

目前，热分析技术是在程序温度控制下测量物质的物理性质随温度的变化，用于研究物质在某一特定温度时所发生的热学、力学、声学、光学、电学、磁学等物理参数的变化，是一种十分重要的分析测试方法。此外，不同的技术方法对应不同的热分析仪器，但通常热分析仪器包括温度控制器、炉体、物理检测单元、气氛控制器和数据处理系统等，其中，炉体是热分析仪器的核心部件，为试样提供一个测量所需的均温环境得到支撑。

具体而言，可分为差示扫描量热法（Differential Scanning Calorimetry；DSC）、差热分析（Differential Thermal Analysis；DTA）、热重分析仪（Thermo GravimetricAnalyzer；TGA）、以及动态热机械分析（Dynamic Thermomechanical Analysis；DMA）等。

差示扫描量热法中所需的差示扫描量热仪（以下有时也会简称DSC）是上述热分析仪器的一种，也是应用最广泛的一种，是使样品处于程序温度控制下，观察样品和参比物之间热流差随温度或时间变化的测试仪器。另外，磁环境还能对材料的物相形成及性能产生影响，对材料新现象和机理研究具有重要的科学价值。

然而，目前产品性能指标过低，商品化的差示扫描量热仪大部分没有低温区，只有少数有低温指标，仅在103K以上，同时冷却速率也低于80K/min，难以满足市场需求。另外，针对应用于磁环境的差示扫描量热仪的研究，也几乎处于起步阶段。

发明内容

发明要解决的问题：

针对上述问题，本发明的目的在于提供一种用于热分析仪器的冷却器，能实现快速高效的制冷，且在有磁和无磁环境下均能准确测量。

解决问题的技术手段：

本发明提供一种用于热分析仪器的冷却器，包括：

中空，且一端封闭为传冷面、一端开放的导冷件；

中空且隔着间隙嵌套于所述导冷件内部的冷媒喷头；

位于所述导冷件的开放的一端侧的冷媒入口管和冷媒出口管；以及

与所述导冷件的开放的一端、以及与所述冷媒喷头中远离所述传冷面的一端分别密封连接的过渡接头；

所述冷媒喷头的内壁与所述过渡接头形成了冷媒内腔；

所述冷媒喷头的外壁与所述导冷件的内壁形成了冷媒外腔；

所述冷媒入口管与所述冷媒内腔相连通，所述冷媒出口管与所述冷媒外腔相连通。