[发明专利]岩体结构面粗糙度统计样本数确定方法有效

专利信息
申请号: 201811267065.7 申请日: 2018-10-29
公开(公告)号: CN109543236B 公开(公告)日: 2023-05-09
发明(设计)人: 雍睿;田钱钱;梁渭溪;曹泽敏;徐敏娜 申请(专利权)人: 绍兴文理学院
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F18/15
代理公司: 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 代理人: 王利强
地址: 312000 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 结构 粗糙 统计 样本 确定 方法
【权利要求书】:

1.一种岩体结构面粗糙度统计样本数确定方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

(1)确定对部分露出岩体结构面表面的采样长度L,L为任意自然数,在本实验中选取采样长度为L的样本N个;

(2)在实验对象结构面表面用轮廓曲线仪提取i个测段的轮廓曲线,i=1、2、3...N;

(3)分别计算每个测段所对应的结构面粗糙度系数;

(4)将N个样本进行分组,第一组为10个样本,之后每增加5个样本视为一组,可得k组,统计分析,计算并列表记录每组所对应的岩体结构面粗糙度系数的平均值μk和标准差σk

(5)计算并记录变异系数CVk,用上一步每组计算所得的标准差σk除以平均值μk来求得每一组的变异系数CVk

(6)级比分析,用公式计算,m=1,2,3...k-1,利用这种依次相除的方式得到级比序列,按顺序记录结果;

(7)对级比序列的数据进行处理,将得到的连续4个数据看作一簇,放在同一横坐标上利用oringin lab散点图进行绘图,当前后两个变异系数相同时比值为1,前后两个变异系数的差越大时比值越远离1,观察形成的级比系数簇散点图;

(8)确定采样长度为L所需要的样本数量,当在某一个数据簇以及之后的所有数据簇的4个点都落在预设ω区间内,那么说明这个数据簇所代表的样本数量即为采样长度为L时所需要的最小样本数量。

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