[发明专利]一种高可靠非接触式位置接近测量装置

权利要求书

1.一种高可靠非接触式位置接近测量装置，其特征在于：包括位置开关固定触点A（1）、位置开关活动触点（2）、位置开关固定触点B（3）、第一磁体（4）、驱动板（5）、连接轴（7）、第二磁体（8）、外壳（6），其中：

连接轴（7）竖直安装在外壳（6）内，第二磁体（8）安装在连接轴（7）的底端、位于外壳（6）的底面的上方；驱动板（5）、位置开关活动触点（2）依次安装在连接轴（7）上、第二磁体（8）的上方，且驱动板（5）、位置开关活动触点（2）、第二磁体（8）相对位置固定，可沿着连接轴（7）的轴向一同运动；所述的位置开关固定触点A（1）、位置开关固定触点B（3）和第一磁体（4）固定安装在外壳（6）的内壁上，位置开关固定触点A（1）、位置开关固定触点B（3）分别设置在位置开关活动触点（2）的上方和下方，且位置开关活动触点（2）分别与位置开关固定触点A（1）、位置开关固定触点B（3）在垂直于连接轴（7）方向上的投影有重叠，且位置开关固定触点A（1）、位置开关固定触点B（3）、位置开关活动触点（2）有接触检测功能；

所述的第一磁体（4）在所述的驱动板（5）的上方；

所述的第一磁体（4）和驱动板（5）其中一个为永磁铁，另一个为导磁材料，或均为永磁铁：永磁铁的磁极方向与连接轴（7）的轴向方向一致，且均为永磁铁时，两个永磁铁的磁极方向一致；所述第二磁体（8）为永磁体，且磁极方向与连接轴（7）的轴向方向一致；

所述的位置开关固定触点A（1）和位置开关活动触点（2）之间的距离小于第一磁体（4）和驱动板（5）之间的距离，所述的位置开关活动触点（2）和位置开关固定触点B（3）之间的距离小于第二磁体（8）和外壳（6）的底面之间的距离。

2.如权利要求1所述的一种高可靠非接触式位置接近测量装置，其特征在于：所述的位置开关固定触点A（1）、位置开关活动触点（2）、位置开关固定触点B（3）为导电的电极。

3.如权利要求1或2所述的一种高可靠非接触式位置接近测量装置，其特征在于：所述的第二磁体（8）为圆形；所述的驱动板（5）和位置开关活动触点（2）为圆形，垂直居中安装在连接轴（7）上；所述的位置开关固定触点A（1）、位置开关固定触点B（3）和第一磁体（4）为环形，固定安装在外壳（6）内，与外壳（6）的内壁垂直。

4.如权利要求3所述的一种高可靠非接触式位置接近测量装置，其特征在于：所述的外壳（6）为不导磁材料。

5.如权利要求2或4所述的一种高可靠非接触式位置接近测量装置，其特征在于：所述的连接轴（7）为不导磁材料，且与所述的位置开关活动触点（2）绝缘。

6.如权利要求1所述的一种高可靠非接触式位置接近测量装置，其特征在于：所述的连接轴（7）设置为中空。