[发明专利]高覆盖射频指标自动测试装置在审

专利信息
申请号: 201811263206.8 申请日: 2018-10-28
公开(公告)号: CN109302713A 公开(公告)日: 2019-02-01
发明(设计)人: 闫鸿 申请(专利权)人: 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)
主分类号: H04W16/18 分类号: H04W16/18;H04W24/08
代理公司: 成飞(集团)公司专利中心 51121 代理人: 郭纯武
地址: 610036 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 被测设备 射频指标 通用测量 多通道 自动测试装置 矩阵模块 转接 高覆盖 噪声源 读取 参考时钟信号 工控计算机 矢量信号源 自动化测试 被测信号 本振信号 标准格式 测试报告 高覆盖率 控制参数 快速测试 模块接收 手动控制 手动配置 输出信号 输入射频 自动测试 自动切换 自动生成 输出 本振源 多指标 可视化 信号源 射频 调用 微波 测试
【说明书】:

发明公开了一种高覆盖射频指标自动测试装置,利用本发明可以对各类型被测设备的多通道射频指标进行高覆盖率的快速测试。本发明通过下述技术方案予以实现:输入射频转接矩阵模块接收多个信号源、噪声源和矢网的输出信号,为被测设备提供微波矢量信号源、噪声源和矢网输出等源信号,被测设备从多通道本振源模块接收低相噪本振信号和参考时钟信号,被测设备通过输出射频转接矩阵模块完成多通道自动切换,将被测信号传送给通用测量仪器;工控计算机调用通用测量仪器和被测设备的控制参数,完成多指标的自动测试,读取通用测量仪器的测试结果自动生成标准格式的测试报告;利用可视化手动控制界面,实现被测设备的主要指标手动配置测试和自动化测试。

技术领域

本发明涉及一种能够实现对多类型射频模块及多性能指标自动测试的全自动高覆盖率的自动测试装置,可直接应用于各类射频模块全指标自动化高精度快速测试。

背景技术

随着测试技术及人工智能的发展,自动测试技术在逐步摆脱专业定制向模块化、通用化发展。无线通讯设备研发阶段射频指标测试,当前主要采用测试人员全程值守的半自动化测试方案,然后由测试专家人工完成后期的数据分析化及测试问题定位。上述工作的效率并不能完全满足当前研发任务的需求。最初采用的测试技术是人工测试,测试人员需要了解测试标准、被测对象、仪器仪表、测试方法及测试中可能出现的数据,对测试人员要求很高。测试过程中反复多次插拔连接线容易造成精密仪器设备的损坏及线缆特性参数的变化。人工测试耗时长、误差大、成本高等缺陷导致其己经无法适应电子设备复杂化、集成化的发展趋势。对于长时间性能测试之类的稳定性测试项目往往需要几万次甚至几十万次的重复操作,电子设备在投入大规模生产之前都需要进行极端环境模拟测试。诸如此类的测试项,人工测试是不可能完成的。自动化测试可以将最为规范的流程应用到每一次测试活动中,从而避免人为因素对测试结果的影响,测试结果。专业型的自动测试系统针对性强,测试方便,但其使用的测试软件与仪器接口没有标准化,只是针对某个特定的测试项目研发,通用性、可移植性很差。

随着各种新技术、新工艺和新器件广泛应用于各类发射机、接收机、变频器、分合路器等射频设备,设备性能提高的同时也使其性能测试更为复杂。对于模块种类繁多的射频微波类模块研制来说,模块需要测试的主要性能指标包括了增益、功率、噪声、驻波、隔离度、非线性失真、相位特性、开关切换时间、工作电流电压以及模块的工作状态等多个内容,这些指标的测试验证通常需要利用不同的测试测量仪器通过多次测量分别实现。以宽带接收变频信道模块为例,需要调试测试的主要指标包括了链路增益及平坦度,噪声系数、P1dB压缩点、开关隔离度、端口驻波、通道隔离度以及模块工作时的电压电流等。指标测试时,链路增益及平坦度、P1dB压缩点等指标通常需要使用微波信号源和频谱仪等测量仪器,噪声系数指标需要使用噪声源和噪声测试仪,端口驻波,而隔离度等指标需要使用矢量网络分析仪,而开关切换时间等指标需要使用示波器。在传统的射频性能测试中,一般直接对射频仪表进行人工手动操作、数据记录等,而测试中所使用的仪器设备种类繁多、功能各异、关联性差、操作不便,不仅对测试人员素质要求高,且测试速度慢、重复性操作多、效率低、测试周期长,易于造成人为误差或错误,已不能满足批量生产的需要。目前,国内外许多厂家仍然采用人工方式进行器件测试,测试过程中对于器件的详细参数通过人工记录,对产品只是简单地进行通过/失败检测,由于高频线缆受到环境的干扰影响较大,测量过程中少人为因素对于测量的干扰,致使产品生产中对于质量无法严格控制。即使采用定制型自动测试系统,由于射频类模块种类、接口及指标的复杂性,造成自动测试系统同样复杂,测试系统研制费用高,研制及调试周期长,调试、校准及测试流程优化工作量巨大。被测模块种类的变化甚至指标和性能的局部调整,都会造成自动测试系统的重新开发,造成测试仪器和人力资源利用率低。目前射频微波电路的自动化测试系统定制性较强,通用性较差,无法实现模块种类及指标测试的全覆盖自动化测试。

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