[发明专利]一种电机换相器片间短路测试系统及其工作方法

权利要求书

1.一种电机换相器片间短路测试系统，其特征在于：包括用于与换相器（8）相连的探针、用于检测探针电压高低的测试装置，所述的测试装置包括主控芯片（1）及主控芯片（1）外围电路，所述的主控芯片（1）外围电路包括测试电路及用于供电的供电电路，所述的探针分为上层探针（5）、下层探针（6）；所述的测试电路包括与上层探针（5）相连的上层探针（5）测试电路、与下层探针（6）相连的下层探针（6）测试电路；测试电路的数量与探针数量相对应以测试每一探针的电压。

2.根据权利要求1所述的一种电机换相器片间短路测试系统，其特征在于：所述的上层探针（5）测试电路的控制端PX与主控芯片（1）引脚相连，上层探针（5）测试电路的检测端与上测控针相连；上层探针（5）测试电路包括基极与控制端相连的第一三极管、与第一三极管集电极相连的开关管，所述的检测端与开关管相连。

3.根据权利要求2所述的一种电机换相器片间短路测试系统，其特征在于：所述的上层探针（5）测试电路还包括限压电阻R1、保护电阻R2、上拉电阻R3，所述的第一三极管为NPN三极管，第一三极管的基极通过限压电阻R1与控制端相连，第一三极管的集电极通过上拉电阻R3与电源相连。

4.根据权利要求3所述的一种电机换相器片间短路测试系统，其特征在于：所述的开关管为NMOS管，开关管的栅极与第一三极管的集电极相连，开关管的漏极通过上拉电阻R4与电源相连；所述的控制端与漏极相连，开关管的源极接地。

5.根据权利要求2所述的一种电机换相器片间短路测试系统，其特征在于：所述的下层探针（6）测试电路的控制端POUTX与主控芯片（1）引脚相连,所述的下层探针（6）测试电路包括第二三极管、继电器，所述的继电器一端与下层探针（6）相连，继电器的另一端接地，第二三极管的基极与控制端POUTX相连，第二三极管的集电极与继电器线圈相连。

6.根据权利要求5所述的一种电机换相器片间短路测试系统，其特征在于：所述的下层探针（6）测试电路还包括限压电阻R5、保护电阻R6、上拉电阻R7，所述的第二三极管为NPN三极管，第二三极管的基极通过限压电阻R5与控制端POUTX相连，第二三极管的集电极通过上拉电阻R3与电源相连。

7.根据权利要求1所述的一种电机换相器片间短路测试系统，其特征在于：所述的主控芯片（1）通过扩张板接口（3）与外挂扩展板（2）相连，所述的外挂扩展板（2）上设有所述的下层探针（6）测试电路。

8.根据权利要求7所述的一种电机换相器片间短路测试系统，其特征在于：所述的主控芯片（1）、上层探针（5）测试电路及与上层探针（5）测试电路相连的探针接口设于一PCB板上，所述的探针接口与探针相配。

9.根据权利要求8所述的一种电机换相器片间短路测试系统，其特征在于：所述的测试系统还包括PLC、显示器（4），所述的主控芯片（1）通过通讯接口与PLC相连，所述的PLC与显示器（4）相连。

10.根据权利要求9所述的一种电机换相器片间短路测试系统的工作方法，其特征在于包括以下步骤：

1）准备工作，将探针分别插入探针接口中；

2）检测探针是否接触良好：

上层探针（5）测试电路的控制端PX输出高电平，第一三极管导通，NPN三极管集电极的电位被拉低， NMOS管不导通，NMOS管的漏极电位为高电平，上层探针（5）接高电平；

下层探针（6）测试电路的控制端POUT输出低电平，第二三极管不导通，第二三极管的集电极电位为高电平，继电器K闭合，下层探针（6）接低电平；当上层探针（5）和下层探针（6）同时接触铜片（7）时，若上下层探针（6）均接触良好，则NMOS管的漏极的高电平被拉低，反之无变化；完成判定探针是否接触良好；

3）检测换相器（8）任意两片间是否短路：

下层探针（6）测试电路的控制端POUT输出高电平，NPN三极管导通，第二三极管的集电极电位为低电平，继电器K断开，即片间短路测试不考虑下层探针（6）；

第一次测试：主控芯片（1）的一P口输出低电平，NPN三极管不导通，第一三极管集电极为高电平，即NMOS管导通，NMOS管漏极电位被拉低，对应上层探针（5）为低电平，其他上层探针（5）测试电路相连的P口输出高电平，即其他上层探针（5）均为高电平，若有探针与上层探针（5）短路，相应探针的电位被拉低，若无探针短路，即所有探针的电位保持不变；

第二次测试：主控芯片（1）的下一P口输出低电平，其他P口输出高电平，若有探针与上层探针（5）短路，相应探针的电位被拉低，若无探针短路，即所有探针的电位保持不变；依次循环，即可检测出换相器（8）任意两片间是否短路。