[发明专利]一种电子元件检测装置及其使用方法在审

专利信息
申请号: 201811260564.3 申请日: 2018-10-26
公开(公告)号: CN109174680A 公开(公告)日: 2019-01-11
发明(设计)人: 练韩奇 申请(专利权)人: 练韩奇
主分类号: B07C5/28 分类号: B07C5/28;B07C5/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 432100 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 大腔 端壁 转动设置 主轮 电子元件检测装置 驱动杆 通透腔 左端面 摆杆 固设 自动化方式 电机驱动 工作效率 滑动设置 前后对称 人工成本 张紧轮 称重 皮带 开口 贯穿
【说明书】:

发明公开了一种电子元件检测装置及其使用方法,所述电子元件检测装置包括箱体,所述箱体内固设有大腔,所述大腔右端壁转动设置有驱动杆,所述驱动杆由固设于所述大腔右端壁电机驱动,所述驱动杆外表面固设有皮带主轮和主轮,所述主轮左端面固设有固点,所述大腔左右端壁转动设置有摆杆,所述摆杆内固设有开口朝前且左右贯穿的通透腔,所述通透腔上下端壁滑动设置有与所述主轮左端面固设的固点,所述大腔右端壁转动设置有前后对称的张紧轮,所述大腔左右端壁转动设置有连杆,本发明设备结构简单,使用方便,此设备采用自动化方式对电子元件的称重进行高效的处理,降低了人工成本,提高了设备的工作效率和质量,提高了设备的可靠性。

技术领域

本发明涉及检测设备领域,具体为一种电子元件检测装置及其使用方法。

背景技术

随着电子工业的飞速发展,电子元器件产品层出不穷,品种规格繁杂,且在应用时通常需要大批量产品,而电子元件的质量直接决定了产品的质量,现有的电子元件检验包含各方面相关参数,其中在高精度设备中,元件的重量会影响了设备的重量,进而在某种程度上影响设备运行,传统的电子元件重量检测时,需要人工依次拿取测量,不仅费事费力,而且人工操作难免出现失误,拉低质量,此设备有效地解决了这种问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电子元件检测装置及其使用方法,用于克服现有技术中的上述缺陷。

根据本发明的一种电子元件检测装置及其使用方法,所述电子元件检测装置包括箱体,所述箱体内固设有大腔,所述大腔右端壁转动设置有驱动杆,所述驱动杆由固设于所述大腔右端壁电机驱动,所述驱动杆外表面固设有皮带主轮和主轮,所述主轮左端面固设有固点,所述大腔左右端壁转动设置有摆杆,所述摆杆内固设有开口朝前且左右贯穿的通透腔,所述通透腔上下端壁滑动设置有与所述主轮左端面固设的固点,所述大腔右端壁转动设置有前后对称的张紧轮,所述大腔左右端壁转动设置有连杆,所述连杆外表面固设有皮带轮,所述前侧连杆外表面固设有主锥齿轮,所述皮带主轮、张紧轮、皮带轮通过皮带动力连接,所述大腔右端壁设置有空腔,所述空腔后端壁固设有前后贯穿且与所述大腔端壁连通的透槽,所述空腔左右端壁连通设置有推块,所述推块内固设有开口朝前的开口腔,所述开口腔后端壁固设有前后贯穿且与所述透槽前端壁连通设置的底槽,所述开口腔左右端壁滑动设置有滑板,所述滑板内固设有前后贯穿的通槽,所述通槽左右端壁固设有固杆,所述摆杆穿透所述透槽,通过所述底槽,并与所述固杆滑动配合连接,所述空腔右端壁转动的贯穿设置有贯穿杆,所述贯穿杆外表面固设有位于所述空腔内且与所述推块前端面滑动配合连接的动力轮,所述空腔右端壁设置有上腔,所述上腔下端壁设置有下腔,所述贯穿杆外表面固设有位于所述上腔内的连动锥齿轮,所述上腔下端壁转动的贯穿设置有转柱,所述转柱与所述下腔下端壁转动配合连接,所述转柱外表面固设有位于所述上腔内且与所述连动锥齿轮彼此啮合的动力锥齿轮,与所述转柱螺纹配合连接设置有螺纹杆,所述螺纹杆内固设有开口朝上的开腔,所述开腔滑动配合连接设置有与所述上腔上端壁固设的导杆。

进一步的技术方案,所述下腔下端壁设置有侧腔,所述螺纹杆外表面固设有位于所述侧腔内的推板,所述侧腔后端壁固设有撑块,所述撑块前端面固设有重量感应器,所述侧腔左端壁连通设置有输送腔,所述输送腔上端壁设置有转腔,所述转腔下端壁转动设置有连转杆,所述连转杆转动的贯穿所述转腔上端壁,所述连转杆外表面固设有位于所述大腔内且与所述主锥齿轮彼此啮合的从锥齿轮和位于所述转腔内的转块,所述转块侧面固设有转动板,所述输送腔下端壁转动设置有若干转轴,所述转轴外表面固设有上下对称的动轮,所述动轮通过皮带动力连接,所述左侧转轴转动的贯穿所述输送腔上端壁,所述转轴外表面固设有位于所述转腔内的转轮。

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