[发明专利]基于双因素算法的三相电掉电检测方法在审

专利信息
申请号: 201811245053.4 申请日: 2018-10-24
公开(公告)号: CN109521284A 公开(公告)日: 2019-03-26
发明(设计)人: 杜育宽 申请(专利权)人: 杜育宽
主分类号: G01R29/16 分类号: G01R29/16
代理公司: 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 代理人: 郑自群
地址: 570100 海南*** 国省代码: 海南;46
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摘要:
搜索关键词: 缺相检测 三相电电压 波形数据 掉电检测 三相电 算法 对比结果 取样相位 输出比较 算法检测 远程测控 检测 叠加 测量
【说明书】:

发明公开了一种基于双因素算法的三相电掉电检测方法,包括步骤:S1:获取按设定比例叠加后的三相电电压波形数据;S2:将步骤S1中所获取到的数据输入到CPU中,采用双因素算法检测出缺相信息,即,将获取到的三相电电压波形数据中的最大值、最小值及二者斜率作比较对比,并输出比较对比结果,从而高速地检测出缺相。本发明解决了取样相位时间和A/D测量误差对缺相检测的影响,不仅提高了检测时间,而且增强了缺相检测信息的可靠性,还能指示缺相的相序,适应了远程测控,降低了缺相检测信息的成本。

技术领域

本发明涉及三相电检测技术领域,更为具体地,涉及一种基于双因素算法的三相电掉电检测方法。

背景技术

在交流三相电系统中,某一相的掉电会对用电设备会产生极大的损害。现有的缺相检测设备容易受到取样相位时间和A/D单元测量误差的影响,一般的最快也需3-5个市电周期,约大于60-100毫秒,不仅造成缺相检测时延较大,且缺相检测信息不可靠,还不能指示缺相的相序,不适应远程测控,获取缺相检测信息的成本高。

在三相电在某相掉电时,急需在掉电瞬间发出控制信号,切断设备或启动备用电源,并指示出断相相序,以备修复。目前,缺相检测设备存在误差、检测信息不可靠、检测时延较大、不适应远程测控、成本高等问题。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种基于双因素算法的三相电掉电检测方法,解决了取样相位时间和A/D测量误差对缺相检测的影响,不仅提高了检测时间,而且增强了缺相检测信息的可靠性,还能指示缺相的相序,适应了远程测控,降低了缺相检测信息的成本。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的:一种基于双因素算法的三相电掉电检测方法,包括:

S1:获取按设定比例叠加后的三相电电压波形数据;

S2:将步骤S1中所获取到的数据输入到CPU中,采用双因素算法检测出缺相信息,即,将获取到的三相电电压波形数据中的最大值、最小值及二者斜率作比较对比,并输出比较对比结果,从而高速地检测出缺相。

进一步地,在步骤S1中,包括:

S10:通过无线和/或无线通信单元连接云平台,从而远程感知获取到所述的三相电电压波形数据。

进一步地,在步骤S1中,包括设置有将三相电电压按比例叠加的电路;

所述电路包括电流比例叠加电阻网络和线性光偶,电流比例叠加电阻网络与线性光耦连接;电流比例叠加电阻网络从电源处获取正向电流,且通过调节电流比例叠加电阻网络的电阻,使正向电流按设定的比例叠加,然后输入到线性光耦,线性光偶输出按比例叠加后的电压波形。

进一步地,在步骤S1中,设定比例设置为2.5:5:10,且满度值设为10;根据该设定比例,获取不同相位角度下的相位信息,如下表:

其中,A,B和C分别代表三相电中的A相,B相,C相。

进一步地,在步骤S2中,通过A/D模块采样,并将三相市电电压叠加波形数据输入到CPU中。

进一步地,在步骤S2中,CPU每隔一个T1周期监测一次A/D值,在一个T2周期内,即可检测出缺相及所缺相位,如下表:

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