[发明专利]测定金属材料内部晶粒属性的方法和装置

权利要求书

1.一种测定金属材料内部晶粒属性的方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取基于标准试样的金属材料的衰减系数；

对待测金属材料进行检测，获取多个针对所述待测金属材料的多种数据；

根据检测到的所述多种数据与标准试样的所述金属材料的所述衰减系数进行比对，完成所述金属材料内部晶粒属性的测定；

其中，所述获取基于标准试样的金属材料的衰减系数包括：通过设置至少一个超声波探伤仪与至少一个直探头对所述标准试样的所述金属材料的衰减系数进行接收；

其中，所述获取基于标准试样的金属材料的衰减系数包括：将预设晶粒粗细度等级的所述金属材料定义为所述标准试样的所述金属材料；根据超声波A型脉冲反射法测量并计算所述标准试样的所述金属材料对超声波的所述衰减系数，其中，基于所述标准试样的所述金属材料的工件厚度为t，超声波衰减量为x分贝，基于所述标准试样的所述金属材料的所述衰减系数定义为k₀，k₀＝x/t；

其中，所述根据检测到的所述多种数据与标准试样的所述金属材料的所述衰减系数进行比对，完成所述金属材料内部晶粒属性的测定包括：对获取的多个针对所述待测金属材料的所述多种数据中的衰减系数进行提取并定义为k；将针对所述待测金属材料的所述衰减系数与所述标准试样的所述金属材料的所述衰减系数进行差值计算比对，完成所述金属材料内部晶粒属性的测定。

2.根据权利要求1所述的测定金属材料内部晶粒属性的方法，其特征在于，所述将针对所述待测金属材料的所述衰减系数与所述标准试样的所述金属材料的所述衰减系数进行差值计算比对，完成所述金属材料内部晶粒属性的测定包括：

当针对所述待测金属材料的所述衰减系数与所述标准试样的所述金属材料的所述衰减系数进行差值计算，差值小于0，则判定所述待测金属材料内部晶粒粗细度达标。

3.根据权利要求1所述的测定金属材料内部晶粒属性的方法，其特征在于，所述将针对所述待测金属材料的所述衰减系数与所述标准试样的所述金属材料的所述衰减系数进行差值计算比对，完成所述金属材料内部晶粒属性的测定包括：

当针对所述待测金属材料的所述衰减系数与所述标准试样的所述金属材料的所述衰减系数进行差值计算，差值大于0，则判定所述待测金属材料内部晶粒粗细度未达标。

4.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现所述权利要求1-3中任一项所述方法的步骤。

5.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现所述权利要求1-3中任一项所述方法的步骤。

6.一种测定金属材料内部晶粒属性的装置，其特征在于，所述装置包括：

第一获取模块，用于获取基于标准试样的金属材料的衰减系数；

第二获取模块，用于对待测金属材料进行检测，获取多个针对所述待测金属材料的多种数据；

比对与测定模块，用于根据检测到的所述多种数据与标准试样的所述金属材料的所述衰减系数进行比对，完成所述金属材料内部晶粒属性的测定；

其中，所述第一获取模块由至少一个超声波探伤仪与至少一个直探头组成。