[发明专利]一种考虑校正量误差相关性的卫星测高精度确定方法有效

专利信息
申请号: 201811242023.8 申请日: 2018-10-24
公开(公告)号: CN109212524B 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 李洋;韩浪;袁仕耿;王韶波;陈娟;张严 申请(专利权)人: 航天东方红卫星有限公司
主分类号: G01S13/88 分类号: G01S13/88;G01S7/40
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 武莹
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 考虑 校正 误差 相关性 卫星 测高 精度 确定 方法
【权利要求书】:

1.一种考虑校正量误差相关性的卫星测高精度确定方法,其特征在于包括如下步骤:

(1)根据海面高精度确定的解析模型,确定海面高的观测量、N项校正量;

(2)分别确定N项校正量的方差;

(3)判断观测量、校正量是否有相同或相关联变量,若有,则计算两者的协方差,否则无操作,遍历所有的校正量;

(4)判断N项校正量中任两项校正量是否存在相同或相关联的变量,若存在,计算两者的协方差,否则无操作,遍历所有的校正量;

(5)将步骤(2)、(3)、(4)得到的方差、协方差进行求和并开平方,进而得出考虑误差相关性后的海面高。

2.根据权利要求1所述的一种考虑校正量误差相关性的卫星测高精度确定方法,其特征在于:所述的海面高精度确定的解析模型为

hSSH=rOrb-rAlt+rSSB+rIB+rDry+rWet+rIon

其中,hSSH为海面高,rOrb为轨道高度,rAlt为高度计测距值,rSSB为海况偏差校正量,rIB为逆气压校正量,rDry为干对流层校正量,rWet为湿对流层校正量rWet,rIon为电离层校正量。

3.根据权利要求2所述的一种考虑校正量误差相关性的卫星测高精度确定方法,其特征在于:所述的N项校正量包括海况偏差校正量rSSB,逆气压校正量,干对流层校正量rDry,湿对流层校正量rWet,电离层校正量rIon

4.根据权利要求2所述的一种考虑校正量误差相关性的卫星测高精度确定方法,其特征在于:所述的海况偏差校正量的方差包括Ku波段的海面偏差校正量σ2(rSSB)、C波段的海面偏差校正量σ2(rSSB,C),其中:

σ2(rSSB)=(1.758)2σ2(HSW)+(0.5195)2σ2(UWS)

σ2(rSSB,C)=(2.5897)2σ2(HSW)+(0.8658)2σ2(UWS)

HSW为海面有效波高,UWS为海面风速。

5.根据权利要求2所述的一种考虑校正量误差相关性的卫星测高精度确定方法,其特征在于:所述的逆气压校正量rIB方差为σ2(rIB)=0.99482σ2(PAtm)

其中,PAtm为海洋表面大气压。

6.根据权利要求2所述的一种考虑校正量误差相关性的卫星测高精度确定方法,其特征在于:所述的干对流层校正量rDry方差为σ2(rDry)=0.22772σ2(PAtm)。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于航天东方红卫星有限公司,未经航天东方红卫星有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811242023.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top