[发明专利]NF系列防热材料产品X射线检测方法

权利要求书

1.NF系列防热材料产品X射线检测方法，其特征在于包括如下步骤：

步骤(1)制作预制体阶段射线检测像质计；

其中，制作预制体阶段射线检测像质计的方法为：

首先制作材料与待检测产品相同的预制体阶段射线检测像质计，使得预制体阶段射线检测像质计厚度等于待检测产品的厚度；

然后在预制体阶段射线检测像质计中根据待检测产品灵敏度检测要求选取三个大小相同的区域，等比减少三个区域内碳纤维网胎层数与石英网胎层数，使得各个区域的密度与标准区域的密度存在等差或者等比差的差值，且差值的最小值不大于待检测产品射线检测灵敏度；

最后在预制体阶段射线检测像质计中标准区域放置金属夹杂，金属夹杂直径不大于待检测产品检测灵敏度；

步骤(2)选取设备、仪器与器材；

其中，选取设备、仪器与器材的方法为：X射线机最高管电压应至少比所透照的NF系列防热材料产品最大透照电压高15kV，最低管电压不大于35kV，管电压的调整精度为±5kV，焦点尺寸不大于1mm，窗口材料为铍，选用细颗粒J1类胶片，增感屏采用金属箔增感屏，无前屏或前屏厚度不大于0.03mm，后屏增感屏厚度不小于0.03mm，片灯应具有可调亮度，最大亮度不低于100 000cd/m²，观片灯的强光照明区域能够屏蔽所观察区域的最小面积，放大镜倍数为3～10倍，并带有刻度尺，最小刻度不大于0.2mm；

步骤(3)制作预制体阶段密度不均匀标准试块：

其中，制作预制体阶段密度不均匀标准试块的方法为：

制作厚度与待检测产品一致且密度小于待检测产品的预制体阶段密度不均匀标准试块；

对待检测产品外表面质量进行外观检验，如果待检测产品外表面的不规则状态在底片上的影像不影响对产品中缺陷的评定，则进行步骤(4)，否则不进行后续检测；

步骤(4)对X射线机采用源在内偏心单壁透照技术，得到包括待检测产品、预制体阶段射线检测像质计影像的底片，当预制体阶段射线检测像质计影像满足待检测产品要求的检测灵敏度时，对待检测产品根据工艺文件检测要求对产品的检测灵敏度进行评定，当待检测产品的灵敏度满足要求时，根据底片中预制体阶段射线检测像质计、待检测产品的影像判断待检测产品中是否有金属夹杂物，然后得到包含预制体阶段密度不均匀标准试块影像的底片，并进行预制体阶段低密度不均匀性检测；

步骤(5)制作固化后阶段射线检测像质计、固化后阶段密度不均匀标准试块；

制作固化后阶段射线检测像质计的方法为：

固化后阶段射线检测像质计采用柱孔型像质计，固化后阶段射线检测像质计的厚度、材料与待检测产品的厚度一致，在固化后阶段射线检测像质计中心部位加工一组柱孔；

步骤(6)根据步骤(4)得到包含固化后阶段射线检测像质计、待检测产品影像的底片，进行夹杂、孔洞和裂纹检测，然后得到包含固化后阶段密度不均匀标准试块影像的底片，并进行固化后阶段密度均匀性检测，当待检测产品预制体阶段、固化后阶段检测均通过时，对应的NF系列防热材料产品X射线检测通过。

2.根据权利要求1所述的NF系列防热材料产品X射线检测方法，其特征在于：所述的得到包括待检测产品、预制体阶段射线检测像质计影像的底片的方法为：

将待检产品厚度一致的预制体阶段射线检测像质计放置在待检产品相邻处，使得预制体阶段射线检测像质计、待检测产品均在射线检测透照范围内，或者当待检测产品外形尺寸过大或超出透照范围，无法将预制体阶段射线检测像质计放置在产品相邻处时，采用相同的透照布置和参数对预制体阶段射线检测像质计进行透照，再与待检测产品透照底片共同进行暗室处理，得到包括待检测产品、预制体阶段射线检测像质计影像的底片。

3.根据权利要求2所述的NF系列防热材料产品X射线检测方法，其特征在于：所述的X射线机中心射线束应与待检测区域的中心垂直，X射线机焦距f的确定方法为：

f/d≥7.5b^2/3

其中，d为射线源焦点尺寸，b为物体至胶片距离。