[发明专利]一种次表层探测雷达星下点脉冲精准定位方法有效

专利信息
申请号: 201811239302.9 申请日: 2018-10-23
公开(公告)号: CN109444881B 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 冯俊涛;杜易;吕鹏;林洪娟 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90;G01S13/88
代理公司: 合肥昊晟德专利代理事务所(普通合伙) 34153 代理人: 顾炜烨
地址: 230000 安徽省合*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 表层 探测 雷达 星下点 脉冲 精准 定位 方法
【说明书】:

发明公开一种次表层探测雷达星下点脉冲精准定位方法,包括步骤:实时采集模块对卫星平台输入的卫星信息进行实时采集处理;顺轨分辨率处理模块根据所述卫星信息进行顺轨分辨率处理获得当前顺轨分辨率;通过脉冲时空统一模块、坐标变换模块、脉冲场景处理模块进行脉冲场景处理;本发明对次表层探测雷达各脉冲场景的精准定位,可以准确的控制成像场景的大小,为信号处理控制开窗大小提供准确的结果,从而降低信号处理的数据处理量,从而加速研制进度,降低验证成本,减少后续更改,提高产品安全性和可靠性。

技术领域

本发明涉及星载次表层成像雷达技术领域,具体涉及一种次表层探测雷达星下点脉冲精准定位方法。

背景技术

合成孔径雷达(Synthetic Aperture Radar,SAR)是一种高分辨率的微波遥感成像雷达,它采用较小的天线,通过综合孔径原理和脉冲压缩技术形成虚拟等效长天线,获取目标高方位分辨率的雷达图像。合成孔径雷达具有分辨率高,能全天候工作,能有效地识别伪装和穿透掩盖物。

但现有的合成孔径雷达对星载次表层进行探测时,需要对目标星体的不同表层进行成像,不同表层的介质系数,导致对电磁波的传播和折射不同,因此无法精准控制雷达星下点位置,导致影响雷达回波的处理,从而致使成像质量不佳。

鉴于上述缺陷,本发明创作者经过长时间的研究和实践终于获得了本发明。

发明内容

为解决上述技术缺陷,本发明采用的技术方案在于,提供一种次表层探测雷达星下点脉冲精准定位方法,包括步骤:

S1,实时采集模块对卫星平台输入的卫星信息进行实时采集处理;

S2,顺轨分辨率处理模块根据所述卫星信息进行顺轨分辨率处理获得当前顺轨分辨率;

S3,通过脉冲时空统一模块、坐标变换模块、脉冲场景处理模块进行脉冲场景处理。

较佳的,所述实时采集模块按照设定格式采集卫星平台输入的卫星信息;所述卫星信息包括时间信息、轨道高度信息、俯仰姿态角、偏航姿态角、滚动姿态角、俯仰角速度、偏航角速度、滚动角速度、星体坐标系X/Y/Z轴位置信息、星体坐标系X/Y/Z轴速度信息。

较佳的,所述次表层探测雷达星下点脉冲精准定位方法还包括:

通讯模块,通过RT端接口芯片与星体接口芯片进行通讯,接收卫星平台发送的所述卫星信息;

驱动模块,用来实现所述RT端接口芯片信号的驱动;

MCU处理单元,用于对次表层探测雷达星下点脉冲精准定位方法的逻辑处理;

所述MCU处理单元包括所述实时采集模块、所述顺轨分辨率处理模块、所述脉冲时空统一模块、所述坐标变换模块、所述脉冲场景处理模块。

较佳的,所述步骤S1包括:

S11,等待所述RT端接口芯片中断,判断是否为所述卫星信息规定的子地址,采集所述RT端接口芯片接收缓冲区内的数据;

S12,对所述卫星信息进行容错校验,将正确的所述卫星信息按照FIF0方式保存在内部变量表中;

S13,对接收到的前20个所述卫星信息的历史信息,采用最小二乘的方法对所述卫星信息进行拟合,获得当前时刻卫星信息。

较佳的,所述拟合公式为:

xi=a2(ti-t)2+a1(ti-t)2+a0

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