[发明专利]指纹信号的校准方法及装置

权利要求书

1.一种指纹信号的校准方法，其特征在于，包括：

获取目标指纹信号并检测所述目标指纹信号是否发生偏移，所述目标指纹信号为在当前指纹应用过程中采集到的指纹信号；

在检测到所述指纹信号发生偏移时，获取终端的光照环境以及指纹按压状态；

在所述终端的光照环境以及指纹按压状态满足预设条件时，执行指纹信号的校准程序。

2.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述获取目标指纹信号并检测所述目标指纹信号是否发生偏移包括：

获取参考指纹信号以及当前指纹应用过程中的所述目标指纹信号，所述参考指纹信号为历史记录的指纹信号；

将所述目标指纹信号与所述参考指纹信号进行对比，以判断所述目标指纹信号相对于所述参考指纹信号的变化量是否超出阈值；

在所述目标指纹信号相对于所述参考指纹信号的变化量超出阈值时，确定所述目标指纹信号发生偏移。

3.根据权利要求2所述的校准方法，其特征在于，所述将所述目标指纹信号与所述参考指纹信号进行对比，以判断所述目标指纹信号相对于所述参考指纹信号的变化量是否超出阈值包括：

获取所述目标指纹信号对应的第一物理参数，所述第一物理参数包括目标指纹信号的强度平均值以及光照强度的标准差值；

获取所述参考指纹信号对应的第二物理参数，所述第二物理参数包括参考指纹信号的强度平均值以及光照强度的标准差值；

将所述第一物理参数和所述第二物理参数进行对比，以判断所述目标指纹信号相对于所述参考指纹信号的变化量是否超出阈值。

4.根据权利要求2所述的校准方法，其特征在于，所述执行指纹信号的校准程序包括：

获取所述参考指纹信号以及第一基准信号，所述第一基准信号用于检测所述参考指纹信号对应的信号变化量；

获取所述目标指纹信号以及第二基准信号，所述第二基准信号用于检测所述目标指纹信号对应的信号变化量；

对所述第二基准信号进行校准，以使所述目标指纹信号相对于所述第二基准信号的信号变化量与所述参考指纹信号相对于所述第一基准信号的信号变化量保持一致。

5.根据权利要求1-4任一项所述的校准方法，其特征在于，所述预设条件包括：

所述终端接收到的光照强度小于预设光强；

所述终端接收到的光照均匀度超出预设均匀度；以及，

所述终端接收到的指纹按压力度小于预设压力。

6.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述获取终端的光照环境以及指纹按压状态包括：

在所述终端重启时，获取终端的光照环境以及指纹按压状态。

7.一种指纹信号的校准装置，其特征在于，包括：

偏移检测模块，用于获取目标指纹信号并检测所述目标指纹信号是否发生偏移，所述目标指纹信号为在当前指纹应用过程中采集到的指纹信号；

状态获取模块，用于在检测到所述指纹信号发生偏移时，获取终端的光照环境以及指纹按压状态；

信号校准模块，用于在所述终端的光照环境以及指纹按压状态满足预设条件时，执行指纹信号的校准程序。

8.一种指纹信号的校准装置，其特征在于，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为执行权利要求1-6任一项所述方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，其特征在于，该指令被处理器执行时实现权利要求1-6任一项所述方法的步骤。