[发明专利]用于在芯片验证中生成时钟的方法和装置在审
| 申请号: | 201811229864.5 | 申请日: | 2018-10-22 |
| 公开(公告)号: | CN109492270A | 公开(公告)日: | 2019-03-19 |
| 发明(设计)人: | 张继存;贾复山;薛炜澎 | 申请(专利权)人: | 盛科网络(苏州)有限公司 |
| 主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 | 代理人: | 杨林洁 |
| 地址: | 215021 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 初始相位 方法和装置 芯片验证 预设周期 进程 随机相位差 内存空间 随机时钟 抖动 并发 | ||
本发明提供了一种用于在芯片验证中生成时钟的方法和装置,所述生成时钟的方法,包括以下步骤:生成若干并发的进程,每个进程都占有独立的内存空间;启动每个进程,每个进程都执行第一操作:生成一个随机的初始相位值,所述初始相位值小于预设周期值;生成一个时钟,所述时钟的周期为所述预设周期值,所述时钟的初始相位为所述初始相位值。从而能够生成具有随机相位差和随机时钟抖动的若干时钟。
技术领域
本发明涉及芯片验证技术领域,尤其涉及一种用于在芯片验证中生成时钟的方法和装置。
背景技术
时钟是集成电路(即芯片)中的一个重要的组成部分,在实际中,不同时钟域的异步时钟之间的通常存在随机的相位差、并且在集成电路中普遍存在时钟抖动。可以理解的是,在集成电路验证的过程中,也需要设置有时钟,而在现有技术中,在集成电路验证中通常设置的是理想时钟,该理想时钟激励无法模拟真实的集成电路中普遍存在的时钟抖动和不同时钟域的异步时钟之间的随机相位差,对包含跨时钟的模块的验证中会掩盖潜在的问题。
因此,在芯片的验证过程中,如何生成具有随机相位差和随机时钟抖动的若干时钟,就成为一个亟待解决的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种用于在芯片验证中生成时钟的方法和装置。
为了实现上述发明目的之一,本发明一实施方式提供了一种用于在芯片验证中生成时钟的方法,包括以下步骤:生成若干并发的进程,每个进程都占有独立的内存空间;启动每个进程,每个进程都执行第一操作:生成一个随机的初始相位值,所述初始相位值小于预设周期值;生成一个时钟,所述时钟的周期为所述预设周期值,所述时钟的初始相位为所述初始相位值。
作为本发明一实施方式的进一步改进,所述生成一个随机的初始相位值,包括:生成一个二进制长度为N的无符号的第一随机数,N为自然数;初始相位值=预设周期值*第一随机数/(2^N-1)。
作为本发明一实施方式的进一步改进,所述生成一个二进制长度为N的无符号的第一随机数,包括:生成一个二进制长度为32的无符号的第一随机数。
作为本发明一实施方式的进一步改进,还包括以下步骤:控制所述每个进程都持续执行第二操作,直至满足预设条件,所述第二操作包括:等待第一时间值,控制所述时钟的电平翻转,等待第二时间值;其中,第一时间值等于0.5个预设周期值时、并且第二时间值等于0,或者第一时间值小于0.5个预设周期值时、并且第二时间值=0.5个预设周期值-第一时间值。
作为本发明一实施方式的进一步改进,还包括以下步骤:控制所述每个进程都持续执行第二操作,直至满足预设条件,所述第二操作包括:生成第二随机数,第二随机数等概率的等于1或0;在确定第二随机数等于1时,等待0.5个预设周期值,控制所述时钟的电平翻转;在确定第二随机数等于0时,等待第一时间值,控制所述时钟的电平翻转,等待第二时间值,0<第一时间值<0.5个预设周期值时,第二时间值=0.5个预设周期值-第一时间值。
本发明实施例提供了一种用于在芯片验证中生成时钟的装置,包括以下模块:进程生成模块,用于生成若干并发的进程,每个进程都占有独立的内存空间;进程启动模块,用于启动每个进程,每个进程都执行第一操作:生成一个随机的初始相位值,所述初始相位值小于预设周期值;生成一个时钟,所述时钟的周期为所述预设周期值,所述时钟的初始相位为所述初始相位值。
作为本发明一实施方式的进一步改进,所述进程启动模块,还用于:生成一个二进制长度为N的无符号的第一随机数,N为自然数;初始相位值=预设周期值*第一随机数/(2^N-1)。
作为本发明一实施方式的进一步改进,所述进程启动模块,还用于:生成一个二进制长度为32的无符号的第一随机数。
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