[发明专利]监控设备的调整方法及装置、存储介质、电子装置

权利要求书

1.一种设备的调整方法，其特征在于，所述方法包括：

在监控设备进行监控的时候，获取所述监控设备采集到的第一图像，其中，所述第一图像携带有噪声；

获取所述第一图像的第一参数值，其中，所述第一参数值用于指示所述第一图像的清晰度；

对所述第一图像进行滤波处理，得到第二图像；

获取所述第二图像的第二参数值，其中，所述第二参数值用于指示所述第二图像的清晰度；

根据所述第一参数值与所述第二参数值调整所述监控设备的焦距；

其中，对所述第一图像进行滤波处理，得到第二图像，包括：

获取所述第一图像中每个像素点的亮度值；将所述第一图像中每个像素点的亮度值与阈值进行比较，确定所述第一图像中所述亮度值大于所述阈值的第一像素点，其中，所述阈值是依据所述监控设备所在环境的光照强度设定的；利用所述第一像素点生成所述第二图像。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，利用所述第一像素点生成所述第二图像包括：

查找所述第一图像中除所述第一像素点以外的像素点；

将所述第一图像中除所述第一像素点以外的像素点删除，得到所述第二图像。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，获取所述第二图像的所述第二参数值包括：

获取所述第二图像中的每个像素点的第三参数和第四参数，其中，所述第三参数用于指示所述像素点的灰度值与在第一方向上相邻的像素点的灰度值之间的变化，所述第四参数用于指示所述像素点的灰度值与在第二方向上相邻的像素点的灰度值之间的变化，所述第二方向与所述第一方向不同；

对所述第二图像中的每个像素点的第三参数的绝对值和第四参数的绝对值进行求和，得到每个所述像素点的第二方差值；

对所述第二图像中所有所述像素点的第二方差值进行累计求和，得到所述第二参数值。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，获取所述第二图像中的每个像素点的第三参数和第四参数包括：

利用第一矩阵模型对每个所述像素点在所述第一方向上的灰度值进行处理，得到所述第三参数，其中，所述第一矩阵模型为[m,n,-m]，其中，m和n为常数；

利用第二矩阵模型对每个所述像素点在所述第二方向上的灰度值进行处理，得到所述第四参数，其中，所述第二矩阵模型为[m,n,-m]^T。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所述监控设备采集到的所述第一图像包括：

获取所述监控设备采集到的原始图像，其中，所述原始图像为采用第一格式编码的图像；

将所述原始图像的编码格式由所述第一格式转换为第二格式，得到所述第一图像。

6.根据权利要求1或5所述的方法，其特征在于，获取所述第一图像的所述第一参数值包括：

获取所述第一图像中的每个像素点的第五参数和第六参数，其中，所述第五参数用于指示所述像素点的灰度值与在第一方向上相邻的像素点的灰度值之间的变化，所述第六参数用于指示所述像素点的灰度值与在第二方向上相邻的像素点的灰度值之间的变化，所述第二方向与所述第一方向不同；

对所述第一图像中的每个像素点的第五参数的绝对值和第六参数的绝对值进行求和，得到每个所述像素点的第一方差值；

对所述第一图像中所有所述像素点的第一方差值进行累计求和，得到所述第一参数值。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，获取所述第一图像中的每个像素点的第五参数和第六参数包括：

依据第一矩阵模型对每个所述像素点在所述第一方向上的灰度值进行计算，得到所述第五参数，其中，所述第一矩阵模型为[m,n,-m]，其中，m和n为常数；

依据第二矩阵模型对每个所述像素点在所述第二方向上的灰度值进行计算，得到所述第六参数，其中，所述第二矩阵模型为[m,n,-m]^T。