[发明专利]一种集成衍射光栅式高稳定性激光位移传感器在审
| 申请号: | 201811199026.8 | 申请日: | 2018-10-15 |
| 公开(公告)号: | CN109141254A | 公开(公告)日: | 2019-01-04 |
| 发明(设计)人: | 叶国永;刘红忠;许正宸;雷彪;刘晓辉 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
| 主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
| 代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人: | 段俊涛 |
| 地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 激光位移传感器 衍射光斑 衍射光栅 被测物 传感器本体 激光二极管 成像透镜 高稳定性 准直模块 光阑 解算 三角测距传感器 透射式衍射光栅 线性图像传感器 被测物表面 光斑 测量数据 传统激光 环境因素 实际位移 位移数据 准直光束 滤光片 漫反射 反求 分束 减小 中位 噪声 测量 | ||
1.一种集成衍射光栅式激光位移传感器,包括传感器本体(10),所述传感器本体(10)内设有激光二极管(1)和准直透镜(2)、光阑(3)、滤光片(6)、成像透镜(7)、衍射光栅(8)和CMOS线性图像传感器(9),其特征在于,所述激光二极管(1)经过准直透镜(2)发射准直激光束(4),该激光束经过光阑(3)之后,投射于传感器本体外的样品(5)表面,样品(5)表面产生的漫反射光经过滤光片(6)和成像透镜(7),再经衍射光栅(8)衍射成多个衍射光斑,投射在CMOS线性图像传感器(9)上。
2.根据权利要求1所述集成衍射光栅式激光位移传感器,其特征在于,所述衍射光栅(8)为透射式光栅,拥有4μm的周期,厚度为0.5mm,其光栅槽型为矩形或三角形或正弦形,槽深在400-430nm范围内,占空比为1:1。
3.根据权利要求1所述集成衍射光栅式激光位移传感器,其特征在于,所述衍射光栅(8)将成像光斑衍射成多个。
4.根据权利要求3所述集成衍射光栅式激光位移传感器,其特征在于,所述衍射光栅(8)分束形成的衍射光斑中,-1级光斑(11)、0级光斑(12)和+1级光斑(13)的衍射效率相同。
5.根据权利要求3所述集成衍射光栅式激光位移传感器,其特征在于,所述衍射光栅(8)安装位置应当远离透镜。
6.根据权利要求3所述集成衍射光栅式激光位移传感器,其特征在于,所述衍射光栅(8)与接收透镜距离为25mm。
7.根据权利要求2至6任一权利要求所述的集成衍射光栅式激光位移传感器,其特征在于,在所用激光光源的波长为650nm的红光条件下,所述衍射光栅(8)光栅槽型的槽深控制在400-430nm的范围内,以使得衍射出的±1级光斑和0级光斑的光强占比均在28%-29%范围内。
8.根据权利要求1所述集成衍射光栅式激光位移传感器,其特征在于,还包括孔径光阑,所述孔径光阑与滤光片(6)一体成型,或者单独设置于滤光片(6)与成像透镜(7)之间,配合滤光片(6),用于滤除杂散光,并减小慧差。
9.根据权利要求1所述集成衍射光栅式激光位移传感器,其特征在于,所述CMOS线性图像传感器(9)接收到多个衍射光斑之后,利用激光三角法,分别利用各个衍射光栅信息解算被测物位移,将利用各个光斑求解的位移数据进行平均或取中位值,最终得到被测物的实际位移。
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