[发明专利]一种光模块温度校准方法与装置在审

专利信息
申请号: 201811198009.2 申请日: 2018-10-15
公开(公告)号: CN109443598A 公开(公告)日: 2019-03-08
发明(设计)人: 刘磊;张少杰;吴卫;潘罡;穆磊 申请(专利权)人: 武汉光迅科技股份有限公司
主分类号: G01K15/00 分类号: G01K15/00
代理公司: 深圳市爱迪森知识产权代理事务所(普通合伙) 44341 代理人: 何婷
地址: 430074 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 光模块 上报 待测光模块 温度校准 校准 光通信技术领域 温度传感器阵列 温度稳定状态 测温模块 出光模块 人为因素 实时测定 重新校准 自动校准 测温 实测 预设 输出 成功
【权利要求书】:

1.一种光模块温度校准方法,其特征在于,包括:

通过测温模块中的多温度传感器阵列,实时测定待测光模块指定测温区域内的温度;

每隔预设时间根据实测的温度值计算平均温度,并判断待测光模块是否进入温度稳定状态;

通过稳定后的平均温度来校准待测光模块的上报温度;

判断校准后的上报温度与稳定后的平均温度间的差值是否满足规定值;其中,若满足则温度校准成功;若不满足则重新校准。

2.根据权利要求1所述的光模块温度校准方法,其特征在于,在通过测温模块测定温度之前,所述方法还包括:

启动测温模块中的各温度传感器分别测定标准光模块表面的温度,并计算平均温度;计算各温度与平均温度间的偏差,将偏差小于第一阈值的一个或多个对应温度传感器标记为优选温度传感器,和/或,将偏差大于第二阈值和/或无法工作的一个或多个对应温度传感器标记为故障温度传感器;其中,第一阈值小于第二阈值;

则所述通过测温模块中的多温度传感器阵列,实时测定待测光模块指定测温区域内的温度,具体为:启动测温模块中的所述优选温度传感器,或者除所述故障温度传感器以外的其他温度传感器,实时测定待测光模块指定测温区域内的温度,进而得到一个或多个温度值。

3.根据权利要求2所述的光模块温度校准方法,其特征在于,所述方法还包括:在实时测定待测光模块温度的过程中,对所述一个或多个优选温度传感器进行周期性的校对,当发现其中任一优选温度传感器的实测温度偏差超出第一阈值时,关闭对应的温度传感器,并重新选择温度偏差小于第一阈值的另一温度传感器作为优选温度传感器。

4.根据权利要求1所述的光模块温度校准方法,其特征在于,不同待测光模块指定有不同的测温区域,则所述通过测温模块中的多温度传感器阵列,实时测定待测光模块指定测温区域内的温度,具体为:根据当前待测光模块的指定测温区域,启动测温模块中相应图形区域的一个或多个温度传感器作为实际工作对象,实时测定待测光模块指定测温区域内的温度。

5.根据权利要求1所述的光模块温度校准方法,其特征在于,在通过测温模块测定温度之前,所述方法还包括:

将光模块的温度校准装置搭建完成后,调整所述测温模块的位置正对待测光模块,使得所述测温模块能够感应所述待测光模块指定测温区域内的温度;将待测光模块上电预热后固定在温度校准装置中。

6.根据权利要求1所述的光模块温度校准方法,其特征在于,所述每隔预设时间根据实测的温度值计算平均温度,并判断待测光模块是否进入温度稳定状态,具体为:

测试软件实时读取每个温度传感器的实测温度值,每隔预设时间根据读取的各实测温度值计算平均温度,并进而计算平均温度间的变化量;

判断变化量是否小于预设值,若变化量小于预设值,则待测光模块进入温度稳定状态,停止计算;若变化量大于预设值,则继续计算并判断,直至待测光模块进入温度稳定状态。

7.一种光模块温度校准装置,其特征在于,包括测试治具板(1)、温度校准台(2)、测温模块(3)、误码仪(5)和PC主机(6),所述测试治具板(1)用于固定待测光模块,所述测温模块(3)包括多个温度传感器,用于感应待测光模块指定测温区域的温度;所述测温模块(3)与所述测试治具板(1)相对设置,且分别固定在所述温度校准台(2)的上下端;其中,所述温度校准台(2)上端用于固定所述测温模块(3)的部分可前后上下移动,以便使所述温度传感器对准待测光模块的指定测温区域;

所述误码仪(5)与所述测试治具板(1)连接,用于温度校准时提供发射信号给待测光模块;所述PC主机(6)分别与所述测温模块(3)和所述测试治具板(1)连接,且所述PC主机(6)中安装有测试软件。

8.根据权利要求7所述的光模块温度校准装置,其特征在于,所述装置还包括高低温循环箱(4),用于稳定外界环境温度,所述测试治具板(1)、所述温度校准台(2)与所述测温模块(3)均位于所述高低温循环箱(4)中,所述误码仪(5)与所述PC主机(6)均位于所述高低温循环箱(4)以外。

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