[发明专利]基于快速图形拟合算法的SV波形比对测试方法

权利要求书

1.基于快速图形拟合算法的SV波形比对测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1、获取两条SV波形曲线的原始图形数据f[n]和g[n]；

步骤2、为了移动处理的需要，所获取的曲线的原始图形数据要足够多，判断原始图形数据f[n]和g[n]的数据队列是否超过两个完整的数据周期,即n大于160，如果否，转步骤1；如果是，转下一步；

步骤3、对获取的原始图形数据f[n]和g[n]进行归一化处理，得到：和

步骤4、对两条SV波形曲线归一化处理后的数据和计算差值的均方根，并迭代一个周期：k从0到T，T＝80；

步骤5、获取A′(Δt)[k]中的最小值，设定为p点，此时k即为两曲线最重合的原始数据点，由于原始数据点间隔为250us，80点采样，所以计算精度为250us；

步骤6、为了获取高精度的计算结果，对原始数据进行双向二分法线性插值，为了获取小于p点的计算结果，对p点进行p+125和p-125两处进行线性插值，这样可以获取两个数据队列f_p+[n]和f_p-[n]；

步骤7、以数据队列f_p+[n]和f_p-[n]与基准数据队列计算差值的均方根并各自找到最小点，取两个最小点较小的一个，该点即是这次线性插值所得到的点，此时计算精度为125us；

步骤8、重复步骤6和7过程m次，其中m越大，计算精度越高，如果进行10次这样的插值计算，计算数据精度为250×(0.5)¹⁰＝0.244us；

步骤9、通过步骤8插值计算获取的最小数据点就是两条曲线最佳重合点，该点与基准线起点的相位差即为我们要计算的两条曲线的相位差；

步骤10、对拟合的两个波形计算差值均方根，可获取被测合并单元的采样误差。