[发明专利]测试激励行为一致性的检查方法及检查装置

说明书

本发明提供一种测试激励行为一致性的检查方法及检查装置，所述方法包括：获取测试激励行为信息，测试激励行为信息包括：DUT顶层文件、测试激励顶层文件以及测试激励文件的路径；解析测试激励行为信息，以获得验证信号，验证信号包括：DUT端口列表、DUT例化端口列表、例化信号名列表以及测试激励文件；根据验证信号判断测试激励行为是否一致。本发明测试激励行为一致性的检查方法及装置，可以自动完成通用意义上集成电路验证需要做的两项检查，以避免人工辅助检测例化是否完整和端口是否漏测出现的疏漏，节约时间和成本；相比传统的人力检查方法，本发明在检查速度上有大幅度的提升，且检查质量更可靠。

技术领域

本发明涉及网络通信领域，尤其涉及一种测试激励行为一致性的检查方法及检查装置。

背景技术

数字集成电路的验证要测试到DUT(design under test，待测设计)的所有端口功能，这就要求每个DUT端口都要在测试激励例化中被连接，且所连接的信号在测试激励中要有相应的测试代码。规模比较大的SoC(System on a Chip，片上系统)和ASIC(ApplicationSpecified Integrated Circuit，专用集成电路)等数字集成电路中常存在端口信号数量众多的模块，对这种模块的验证，很容易出现DUT例化时遗漏某些端口或者某些端口信号在测试激励没有出现相应的测试代码的问题。

现有技术中，通常采用人工辅助校验的方式解决上述问题，然而，上述问题如果靠人力去检查效率极低，且质量难保证。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明的目的在于提供一种测试激励行为一致性的检查方法及装置。

为了实现上述发明目的之一，本发明一实施方式提供一种测试激励行为一致性的检查方法，所述方法包括：获取测试激励行为信息，所述测试激励行为信息包括：DUT顶层文件、测试激励顶层文件以及测试激励文件的路径；

解析所述测试激励行为信息，以分别获得多个验证信号，所述验证信号包括：DUT端口列表、DUT例化端口列表、例化信号名列表以及测试激励文件；

所述DUT端口列表为解析所述DUT顶层文件获得的原始的DUT端口的集合；所述DUT例化端口列表为解析所述测试激励顶层文件获得的例化的DUT端口的集合；所述例化信号名列表为解析所述测试激励顶层文件获得的每个例化的DUT端口所分别连接的信号的信号名的集合；所述测试激励文件为所述测试激励文件的路径中包含的后缀为.v和.sv的全部文件的集合，每个.v或.sv的文件均包括DUT端口连接的信号名；

根据获得的验证信号判断测试激励行为是否一致。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述DUT例化端口列表的获取方法具体包括：

获取DUT模块名称，以及所述测试激励顶层文件中的例化代码位置；

以所述DUT模块名称为关键字定位所述测试激励顶层文件中的例化代码位置，对其解析获得每个DUT例化端口。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述例化信号名列表的获取方法具体包括：

获取DUT模块名称，以及所述测试激励顶层文件中的例化代码位置；

以所述DUT模块名称为关键字定位所述测试激励顶层文件中的例化代码位置，对其解析获得每个例化的DUT端口所分别连接的信号的信号名。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述方法还包括：

将获得的DUT端口列表保存在第一数组中，获得的DUT例化端口列表保存在第二数组中，获得的例化信号名列表保存在第三数组中；

以第一数组中的每个DUT端口查询第二数组，和以第三数组中的每个信号名查询所述测试激励文件，