[发明专利]一种电阻测量电路、方法及环境参数测量装置

权利要求书

1.一种电阻测量电路，其特征在于，用于测量待测电阻，所述电阻测量电路包括：

待测电阻子电路，用于连接所述待测电阻，并根据所述待测电阻，输出测量电流；

充放电子电路，包括第一电容，所述第一电容与所述待测电阻子电路连接，所述第一电容用于根据所述测量电流进行充电和放电，并输出测量电压值；

比较子电路，与所述充放电子电路连接，用于在所述第一电容充电的情况下，将所述测量电压值与第一预设电压值进行比较，并输出第一电平信号，在所述第一电容放电的情况下，将所述测量电压值与第二预设电压值进行比较，并输出第二电平信号；

控制器，与所述比较子电路连接，用于在接收到所述第一电平信号的情况下，获取第一时长，在接收到所述第二电平信号的情况下，获取第二时长，从而根据所述第一时长和所述第二时长确定所述待测电阻的阻值。

2.根据权利要求1所述的电阻测量电路，其特征在于，所述待测电阻子电路包括：第一连接端、第二连接端和第二电容；

所述第二电容的一端用于连接电源，所述第二电容的另一端接地，所述第一连接端与所述第二电容的一端连接，所述第二连接端与所述充放电子电路连接，所述第一连接端和所述第二连接端用于连接所述待测电阻。

3.根据权利要求2所述的电阻测量电路，其特征在于，所述充放电子电路还包括：第一电阻和第一二极管；

所述第一电阻的一端与所述第二连接端连接，所述第一电阻的另一端通过所述第一电容接地，所述第一电阻的另一端还与所述比较子电路的第一输入端连接，所述第一二极管的正极与所述第一电阻的一端连接，所述第一二极管的负极与所述比较子电路的输出端连接。

4.根据权利要求3所述的电阻测量电路，其特征在于，所述比较子电路包括：第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻和第一比较器；

所述第二电阻的一端用于连接电源，所述第二电阻的另一端与所述第三电阻的一端连接，所述第三电阻的另一端与所述第一二极管的负极连接，所述第二电阻的另一端还与所述第四电阻的一端连接，所述第四电阻的另一端与所述第五电阻的一端连接，所述第五电阻的另一端接地，所述第一比较器的第一输入端与所述第一电阻的另一端连接，所述第一比较器的第二输入端与所述第四电阻的一端连接，所述第一比较器的输出端与所述第一二极管的负极连接，所述第一比较器的输出端还与所述控制器连接。

5.根据权利要求1-4任一项所述的电阻测量电路，其特征在于，所述电阻测量电路还包括整形子电路；

所述控制器通过所述整形子电路与所述比较子电路连接，所述整形子电路用于对所述第一电平信号和所述第二电平信号进行滤波，并输出至所述控制器。

6.根据权利要求5所述的电阻测量电路，其特征在于，所述整形子电路包括：第六电阻、第七电阻、第三电容和第二比较器；

所述第二比较器的第一输入端接地，所述第二比较器的第二输入端与所述比较子电路的输出端连接，所述第二比较器的输出端与所述第七电阻的一端连接，所述第七电阻的另一端与所述控制器连接，所述第六电阻的一端用于连接电源，所述第六电阻的另一端与所述第七电阻的一端连接，所述第三电容的一端与所述第七电阻的另一端连接，所述第三电容的另一端接地。

7.根据权利要求6所述的电阻测量电路，其特征在于，所述整形子电路还包括：光耦隔离器和第八电阻；

所述光耦隔离器的第一输入端与所述第六电阻和所述第二比较器的共同连接端连接，所述光耦隔离器的第二输入端接地，所述光耦隔离器的第一输出端分别与所述第八电阻的一端、所述第七电阻的一端连接，所述第八电阻的另一端用于连接电源，所述光耦隔离器的第二输出端接地。