[发明专利]电子元件测试设备

说明书

本发明提供一种电子元件测试设备，其包含供料装置、测试装置及输送装置，该输送装置是在供料装置处取出至少一具第一面第一接点及第二面第二接点的电子元件，并移入该测试装置的测试承置器，以使电子元件的第一接点电性接触第一测试器的第一传输件，该测试装置以驱动机构驱动具第二传输件的第二测试器位移，使第二测试器的第二传输件电性接触电子元件的第二接点，利用第一测试器及第二测试器对该测试承置器上的电子元件执行复数个预设测试作业，以自动化测试电子元件及缩减转运电子元件动作时序，达到提升测试品质及生产效能的实用效益。

技术领域

本发明涉及一种自动化测试双面具第一接点及第二接点的电子元件，以提升测试品质及生产效能的电子元件测试设备。

背景技术

在现今，电子元件(例如扩充功能卡)日趋讲究多功能应用及高储存容量等需求，而配置有复数个记忆体及电路，并于一端设有插接部(即金手指)，以插置于另一应用的电路板上，该电子元件的插接部依预设功能而可利用第一面的第一接点传输电源，以及利用第二面的第二接点传输信号；然由于电子元件历经多道加工制程，例如裁切制程或焊线制程等，业者为确保电子元件的出厂品质，于电子元件制作完成后，即执行测试作业而淘汰不良品；请参阅图1，以扩充功能卡11为例，其是一长型板体而供装配复数个记忆体，并于一端设有插接部111，该插接部111的第一面设有复数个传输电源用的第一接点1111，于第二面设有复数个传输信号用的第二接点1112；因此，业者以人工作业先将扩充功能卡11置入于一电源测试装置，利用扩充功能卡11的第一接点1111与电源测试装置的探针接触，而执行电源测试作业，于完成测试后，再将扩充功能卡11取出翻面，并搬运至一信号测试装置，再利用扩充功能卡11的第二接点1112与信号测试装置的探针接触，而执行信号测试作业；然而，业者必须以人工作业将数量繁多的扩充功能卡11逐一于电源测试装置执行电源测试作业，待完成测试作业后，又必须以人工作业将数量繁多的扩充功能卡11逐一换置于一信号测试装置执行信号测试作业，不仅上、下料作业缓慢耗时，更必须将扩充功能卡11转置于不同测试装置执行测试作业以致无法提高生产效能。

发明内容

本发明的目的在于：提供一种电子元件测试设备，解决现有技术中存在的上述技术问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种电子元件测试设备，其特征是包含：

机台；

供料装置：装配于该机台，并设有至少一承置电子元件的供料承置器，该电子元件是在第一面设有第一接点，在第二面设有第二接点；

测试装置：装配于该机台，并设有测试承置器、第一测试器、测试驱动机构及第二测试器，该测试承置器承置至少一该电子元件，该第一测试器装配于该测试承置器，并设有至少一第一传输件，以供电性接触该电子元件的第一接点，该测试驱动机构设有至少一移载驱动器以及由该移载驱动器驱动作至少一方向位移或摆动的移载具，该第二测试器装配于该测试驱动机构的移载具，并设有至少一第二传输件，以供电性接触该电子元件的第二接点；

输送装置：装配于该机台，并设有至少一移载该电子元件的移料器；

中央控制装置：用以控制及整合各装置动作，以执行自动化作业。

所述的电子元件测试设备，其特征在于，该供料装置设置第一供料承置器、第二供料承置器及推移器，该第一供料承置器承置至少一具有待测电子元件的供料盘，该推移器是在该第一供料承置器及该第二供料承置器间移载该供料盘。

所述的电子元件测试设备，其特征在于，该测试装置的测试承置器设置一具有测试承槽的测试承座，该测试承槽供承置该电子元件。

所述的电子元件测试设备，其特征在于，该测试装置的第一测试器装配于该测试承座的测试承槽。