[发明专利]一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试系统及方法

说明书

本发明提供一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试系统及方法，系统包括多控存储系统集群和测试主机；多控存储系统集群包括多控存储控制器和第一输入输出组io_group0和第二输入输出组io_group1，第一输入输出组io_group0内设设置有第一存储节点，第二输入输出组io_group1内设置有第二存储节点；测试主机，向多控存储控制器发送创建测试卷命令和测试卷迁移命令，以及判断测试卷迁移是否成功；多控存储控制器，接收到测试主机发送的创建测试卷命令时，在第一输入输出组io_group0内创建测试卷，并控制测试卷在第一输入输出组io_group0与第二输入输出组io_group1之间迁移。

技术领域

本发明属于存储技术领域，具体涉及一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试系统及方法。

背景技术

IOgroup， I/O 组，一对节点（node）称为一个输入/输出 (I/O) 组。多个NODE节点组成一个集群，可以2 、4、 6、 8个NODE节点，两个NODE节点组成一个IOgroup。

随着IT行业的高速发展，信息化、大数据及云计算的发展对存储系统的稳定性及可靠性要求越来越高。多控存储系统是保障数据可靠性的有效方式，当一个存储控制器出现故障时，其他控制器仍然可以提供服务，是当前中小企业数据存储的首选方案。卷迁移是多控存储系统为了在系统发生故障时能够将卷迁移到其他IOgroup的一个功能。

在多控存储系统中，无论哪个IOgroup发生故障，存储系统都应该能够自动进行卷迁移。现需要验证多控存储系统的卷迁移功能，而传统的测试方法有插拔控制器、下电等方式来模拟存储系统故障，触发自动迁移，但均是手动操作，且效率低下。

此为现有技术的不足，因此，针对现有技术中的上述缺陷，提供一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试系统及方法，是非常有必要的。

发明内容

本发明的目的在于，针对上述验证多控存储系统的卷迁移功能，而传统的测试方法是手动操作，效率低下的缺陷，提供一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试系统及方法，以解决上述技术问题。

为实现上述目的，本发明给出以下技术方案：

一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试系统，包括多控存储系统集群和测试主机；

多控存储系统集群包括多控存储控制器和第一输入输出组io_group0和第二输入输出组io_group1，第一输入输出组io_group0内设设置有第一存储节点，第二输入输出组io_group1内设置有第二存储节点；

多控存储控制器与第一存储节点、第二存储节点以及测试主机均连接；

测试主机，用于向多控存储控制器发送创建测试卷命令和测试卷迁移命令，以及判断测试卷迁移是否成功；

多控存储控制器，用于接收到测试主机发送的创建测试卷命令时，在第一输入输出组io_group0内创建测试卷，以及接收到测试主机的测试卷迁移命令时，控制测试卷在第一输入输出组io_group0与第二输入输出组io_group1之间迁移。一个多控存储系统集群创建的卷，只能从属于其中一个IOgroup，测试主机访问测试卷也是通过IOgroup去访问。

进一步地，测试主机通过SAN交换机连接多控存储控制器。

进一步地，所述多控存储控制器采用四控存储控制器，包括第一存储控制器、第二存储控制器、第三存储控制器以及第四存储控制器，四个存储控制器均分别与测试主机、第一存储节点和第二存储节点连接。多控存储系统是保障数据可靠性的有效方式，当一个存储控制器出现故障时，另外三个存储控制器仍然可以提供服务。

进一步地，测试主机，还用于在测试卷迁移失败时，向多控存储控制器发送命令停止测试卷迁移。