[发明专利]镶嵌成形品合格与否判断装置有效

专利信息
申请号: 201811170919.X 申请日: 2018-10-08
公开(公告)号: CN109638332B 公开(公告)日: 2022-06-24
发明(设计)人: 石滨孝规 申请(专利权)人: 卡西欧计算机株式会社
主分类号: H01M10/00 分类号: H01M10/00;H01M10/058;H01M10/48;H01M10/42;H01M10/0525
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 李逸雪
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 镶嵌 成形 合格 与否 判断 装置
【说明书】:

镶嵌成形品具备:锂离子电池(30);配置于锂离子电池(30)的近旁、测定镶嵌成形时的锂离子电池(30)周围的温度的温度测定元件(50)以及测定压力的压力测定元件(60);和覆盖锂离子电池(30)、温度测定元件(50)、压力测定元件(60)、外罩构件(70)的成形树脂(80)。

关联的申请的参考

本申请主张以2017年10月5日申请的日本专利申请第2017-194992号为挤出申请的优先权,将该基础申请的全部内容全都引入到本申请中。

技术领域

本发明涉及电子部件等中所用的镶嵌成形品、镶嵌成形品合格与否判断装置以及镶嵌成形方法。

背景技术

近年来,例如如特开平4-252739号公报记载的那样,有通过镶嵌成形将电子部件等内置于树脂成形品、从而谋求制品的小型化和制造工序的简化的技术。

在进行基于注塑成形等的一体成形的工序中,内置的部件暴露在高温、高压下,有引起破坏或特性劣化的可能性。

但在一体成形中,由于在制品完成后部件被密封在树脂的内部,因此不能确认部件的破坏、特性劣化。

发明内容

本发明目的在于,确认镶嵌部件的破坏、特性劣化。

本公开的一个方面提供镶嵌成形品,具备:镶嵌部件;配置于该镶嵌部件的近旁、检测镶嵌成形时的该镶嵌部件周围的状态的传感器;和覆盖所述镶嵌部件以及所述传感器的成形树脂。

本公开的另一方面提供镶嵌成形品合格与否判断装置,在对镶嵌部件进行树脂成形后判定所述镶嵌部件的合格与否,具备:配置于所述镶嵌部件的近旁、从检测镶嵌成形时的该镶嵌部件周围的状态的传感器输入检测信号的检测信号输入部;和在树脂成形后基于所述检测信号来判断所述树脂成形的正常、异常的第1判断部。

本公开的另一方面提供镶嵌成形方法,在安装于基板的镶嵌部件的近旁配置检测镶嵌成形时的该镶嵌部件周围的状态的传感器,将所述镶嵌部件用外罩构件覆盖,将所述基板载置在金属模内,成形覆盖所述镶嵌部件和所述传感器的树脂。

附图说明

图1是以去除密封树脂的状态表示本发明的第1实施方式所涉及的镶嵌成形品合格与否判断系统以及镶嵌成形品的俯视图。

图2是表示该镶嵌成形品合格与否判断系统以及镶嵌成形品的说明图。

图3是表示该镶嵌成形品合格与否判断系统所进行的处理流程的说明图。

图4是局部缺失地表示该镶嵌成形品的成形例(正常时)的俯视图。

图5是表示该镶嵌成形品的成形例(正常时)的纵截面图。

图6是表示该镶嵌成形品的成形例(正常时)中的温度变化的说明图。

图7是局部缺失地表示该镶嵌成形品的成形例(异常时)的俯视图。

图8是表示该镶嵌成形品的成形例(异常时)的纵截面图。

图9是表示该镶嵌成形品的成形例(异常时)中的温度变化的说明图。

具体实施方式

图1~图3是表示本发明的第1实施方式的图。图1以及图2是表示镶嵌成形品合格与否判断系统10以及镶嵌成形品20的图。另外,图3是表示镶嵌成形品合格与否判断系统10所进行的处理流程的说明图。

如图1所示那样,镶嵌成形品合格与否判断系统10具备镶嵌成形品20以及系统控制部100。镶嵌成形品20具备基板21和安装于该基板21上的2次电池即锂离子电池(镶嵌部件)30以及电子部件40。

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