[发明专利]一种显示面板的检测方法及系统

权利要求书

1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，包括：

控制拍摄装置对被测显示面板表面进行拍摄；

根据拍摄结果获取所述显示面板的缺陷信息；

根据所述缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取所述缺陷种类中的黑缺陷；

判断所述黑缺陷是否满足被标记条件；

若所述黑缺陷满足被标记条件，对所述黑缺陷进行标记；

控制修复装置修复所标记的黑缺陷。

2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述判断所述黑缺陷是否满足被标记条件包括：

控制测高模组获取所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度；

判断所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度是否超过预设高度阈值；

若所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度超过预设高度阈值，则判定为满足被标记条件。

3.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述根据拍摄结果获取所述显示面板的缺陷信息包括：

获取所述显示面板表面的灰阶图像；

根据所述灰阶图像获取所述显示面板表面各检测点对应的灰阶值；

根据所述灰阶值获取所述显示面板的缺陷信息。

4.根据权利要求3所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述根据所述灰阶值获取所述显示面板的缺陷信息包括：

将所述灰阶值与预设正常灰阶值范围进行比对，根据比对结果来获取所述显示面板的缺陷信息。

5.根据权利要求2所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述控制修复装置修复所标记的黑缺陷包括：

控制修复装置对所标记的黑缺陷进行研磨直至所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度低于所述预设高度阈值。

6.一种显示面板的检测方法，其特征在于，包括：

控制拍摄装置对被测显示面板表面进行拍摄；

根据拍摄结果获取显示面板表面的灰阶图像；

根据所述灰阶图像获取所述显示面板表面各检测点对应的灰阶值；

根据所述灰阶值获取所述显示面板的缺陷信息；

根据所述缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取所述缺陷种类中的黑缺陷；

控制测高模组获取所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度；

判断所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度是否超过预设高度阈值；

若所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度超过预设高度阈值，对所述黑缺陷进行标记；

控制修复装置修复所标记的黑缺陷。

7.一种显示面板的检测系统，其特征在于，包括：

拍摄单元，用于控制拍摄装置对被测显示面板表面进行拍摄；

获取单元，用于根据拍摄结果获取所述显示面板的缺陷信息；

识别单元，用于根据所述缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取所述缺陷种类中的黑缺陷；

判断单元，用于判断所述黑缺陷是否满足被标记条件；

标记单元，用于若所述黑缺陷满足被标记条件，对所述黑缺陷进行标记；

执行单元，用于控制修复装置修复所标记的黑缺陷。

8.根据权利要求7所述的显示面板的检测系统，其特征在于，所述判断单元包括：

第一获取单元，用于控制测高模组获取所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度；

第一判断单元，用于判断所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度是否超过预设高度阈值；

判定单元，用于若所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度超过预设高度阈值，判定所述黑缺陷满足被标记条件。

9.根据权利要求7所述的显示面板的检测系统，其特征在于，所述获取单元包括：

第二获取单元，用于获取所述显示面板表面的灰阶图像；

第三获取单元，用于根据所述灰阶图像获取所述显示面板表面各检测点对应的灰阶值；

第四获取单元，用于根据所述灰阶值获取所述显示面板的缺陷信息。

10.根据权利要求8所述的显示面板的检测系统，其特征在于，所述执行单元具体用于：

控制修复装置对所标记的黑缺陷进行研磨直至所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度低于所述预设高度阈值。