[发明专利]一种芯片引脚检测装置

说明书

本发明提供一种芯片引脚检测装置，它包括底座（1），其特征在于：在底座（1）内设有芯片固定装置（2），在底座（1）两侧分别设有立板（3），在两个立板（3）之间跨设有横梁（4），在横梁（4）上设有通孔，在通孔内穿设有螺杆（5），在横梁（4）上还设有与螺杆（5）对应配合的旋转螺母（6），在螺杆（5）下端部设有与芯片引脚对应配合的引脚插孔（5b）。本发明结构简单、操作方便，在对芯片引脚进行弯曲试验时芯片引脚受力均匀等优点。

技术领域：

本发明涉及一种芯片检测装置，具体地说就是一种芯片引脚检测装置。

背景技术：

在对直插微电子器件（包括集成电路、分立器件、电阻、电容等）进行弯曲试验时，受试器件的引脚（引线）或引出端要受到足以使其弯曲的力，在一个方向上弯曲一个角度，这个角度应足以使引线保持15°的永久弯曲，在初始弯曲结束后，引线应恢复到接近原来的位置。而全部引线的弯曲角度相同，使得弯曲后的引脚在同一个平面上而又不会限制引脚的活动。

但该项试验一般是实验员手持镊子或夹钳进行操作，弯曲点不得出现在引线根部，以免造成根部损伤。但不同的技术人员所用力的大小、角度等均不相同，无法保证该试验的可靠性、稳定性和可重复性。

发明内容：

本发明就是为了克服现有技术中的不足，提供一种芯片引脚检测装置。

本发明提供以下技术方案：

一种芯片引脚检测装置，它包括底座，其特征在于：在底座内设有芯片固定装置，在底座两侧分别设有立板，在两个立板之间跨设有横梁，所述横梁两端分别与对应的立板铰接，在横梁上设有通孔，在通孔内穿设有螺杆，在横梁上还设有与螺杆对应配合的旋转螺母，在螺杆下端部设有与芯片引脚对应配合的引脚插孔。

在上述技术方案的基础上，还可以有以下进一步的技术方案：

在所述的其中一个立板上设有量角器，在所述量角器为透明材料制成，在量角器一侧的横梁上还设有与量角器上刻度对应配合的指示标。

在立板上设有一个竖直分布的调节插孔，在调节插孔内设有锁紧螺钉,所述锁紧螺钉的一端插入底座内。

所述的芯片固定装置包括在底座设有横向滑轨,在滑轨上设有对应配合的底层滑块,在底层滑块上设有与滑轨对应配合的下锁紧销；在底层滑块上设有纵向滑轨，在纵向滑轨上设有对应配合的上层滑块，在上层滑块一侧穿设有上锁紧销，在上层滑块上设有芯片放置槽，在芯片放置槽的四面槽壁上分别设有一个螺栓，位于芯片放置槽内的螺栓端部均设有与芯片对应配合的压板。

发明优点：

本发明结构简单、操作方便，在对芯片引脚进行弯曲试验时芯片引脚受力均匀，在进行芯片引脚弯曲试验时随时查看引脚弯曲的角度，有效的保证了引脚角度均相同，使得试验的具有可靠性、稳定性和可重复性。

附图说明：

图1是本发明的结构示意图；

图2是图1的左视图。

具体实施方式：

如图1和2所示，一种芯片引脚检测装置，它包括一个槽形的底座1，在槽形的底座1内的槽底面上设有芯片固定装置2。所述的芯片固定装置2包括在槽底面上横向设有横向滑轨2a,在滑轨2a上设有对应配合的矩形的底层滑块2b,在底层滑块2b上设有与滑轨2a对应配合的下锁紧销2c。底层滑块2b可以在横向滑轨2a上左右横向移动，并通过下锁紧销固定在合适位置。

在锁紧销2c一侧的底层滑块2b的上表面上设有一对纵向滑轨2d，所述纵向滑轨2d的延伸方向与横向滑轨2a的延伸方向相互垂直。在一对纵向滑轨2d上架设有一个对应配合的矩形的上层滑块2e，在上层滑块2e一侧穿设有上锁紧销2f。上层滑块2e可以在纵向滑轨2d上前后移动，并通过上锁紧销固定在合适位置。