[发明专利]偏光显微镜NIKON-50I POL仿真实验室系统在审

专利信息
申请号: 201811167109.9 申请日: 2018-10-10
公开(公告)号: CN111028593A 公开(公告)日: 2020-04-17
发明(设计)人: 郭艳军;崔莹;陈斌 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: G09B9/00 分类号: G09B9/00;G09B5/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100000*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 偏光 显微镜 nikon 50 pol 仿真 实验室 系统
【权利要求书】:

1.偏光显微镜NIKON-5OI POL仿真实验室系统,其特征在于:包括实验室系统及由所述实验室系统控制的模块,所述模块包括岩石仿真资源模块、仿真演示模块、仿真操作模块、仿真考核模块,所述实验室系统具有三种展示模式,可分别在PC端、IOS端、Android端进行展示;所述岩石仿真资源模块用于存储岩石领域相关资源,以图片和视频方式进行存储,并可通过实验室系统进行展示;所述仿真演示模块还包括部件认知模块,所述部件认知模块按照NIKON-5OI POL显微镜部件进行基本模型建立,通过所述实验室系统可进行人机互动操作,任意选择视角,360度进行显微镜NIKON-5OI POL的认知与学习,鼠标放到显微镜各部件时显示出该部件的名称及基本功能介绍,正确操作流程、安全使用须知相关内容;所述仿真演示模块使得用户通过对NIKON-5OI POL显微镜模型进行点击,演示模型的操作过程;所述仿真操作模块用户可通过鼠标对显微镜模型操作过程进行演示,操作过程中出错时,实验室系统给出提示并给出正确的操作手法,仿真操作过程中还会伴有理论试题的学习,操作者要结合理论知识进行相关回答;所述仿真考核模块供用户对整个操作过程进行考核,用户完成所有操作后系统给出成绩,并显示操作错误部分供用户查看。

2.根据权利要求1所述的偏光显微镜NIKON-5OI POL仿真实验室系统,其特征在于:所述偏光显微镜可以360度进行翻转和查看,可以细化到显微镜每一个部位进行详细了解和认知。

3.根据权利要求2所述的偏光显微镜NIKON-5OI POL仿真实验室系统,其特征在于:所述的实验室系统包括岩石薄片观察图数据库,在伴随显微镜操作中呈现的图形由所述实验室系统从该岩石薄片观察图数据库读取出来进行准确对应。

4.偏光显微镜NIKON-5OI POL仿真实验室系统的仿真操作方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤一:进入系统,系统将进行偏光显微镜的原理解说以及显微镜各个部件的语音和文字介绍,与此同时如果操作者进行了禁止操作,系统会自动给出禁止操作提示且给出原理和操作解释;

步骤二:原理和部件认知之后,将进入仿真操作阶段,选择实验薄片,将薄片放置在偏光显微镜的载物台上,根据实验要求,找到需要呈现的实验结果并记录实验展示的现象和存贮图片;

步骤三:把物镜调整的5PX焦距下,手动调节粗调焦或者微调焦,直到图像显示清晰为止,在这个调焦过程中,系统观察到的图片是在不断变化的,所有的变化都是根据真实情况进行;

步骤四:图像清晰后,开始在镜下,移动薄片,观察查找薄片所含矿物的组成成分和特征;

步骤五:继续移动薄片,查找具有代表性的矿物成分和特征,直到找到大概特征为止;

步骤六:调整其他倍数,继续查找特征点;

步骤七:找到特征点后使用正交偏光进行更详细的观察,找到消光位;

步骤八:切换单偏光继续观察;

步骤九:根据观察到的特征变换使用正交关或者单偏光,利用物镜不同焦距进行查找确认,系统同步记录在各种操作条件下呈现的观察图,而且观察图没有数量限制,所有观察图伴随操作进行;

步骤十:根据实验要求找到最终的特征后,对实验步骤进行填写和确认;

步骤十一:实验进行完毕后关闭电源,将显微镜归位。

5.偏光显微镜NIKON-5OI POL仿真实验室系统的仿真考核方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤一:打开实验报告,了解需要观察的实验要求;

步骤二:根据实验报告记载的要观察的薄片序号,选择相应薄片序号进行观察操作;

步骤三:反复交替使用正交偏关、单偏光以及不同物镜焦距进行薄片的观察和记录;

步骤四:根据观察过程填写实验报告,选择准确的观察结果图,写出准确的观察结果及对应的结果图;

步骤五:查看实验报告以及观察步骤,填写实验数据和结论,点击提交;

步骤六:系统根据操作记录以及填写的实验报告自动给出考核结果。

6.根据权利要求5所述的偏光显微镜NIKON-5OI POL仿真实验室系统的仿真考核方法,其特征在于:上述步骤六中,所述实验室系统具有一个操作关键步骤分值数据库,实验室系统在对薄片进行仿真考核的过程中,对操作步骤会给出合理的分值以评估操作的规范性和科学性。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京大学,未经北京大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811167109.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top