[发明专利]一种基于碳化硅材料的微型核电池及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201811167005.8 申请日: 2018-10-08
公开(公告)号: CN109243659B 公开(公告)日: 2020-01-07
发明(设计)人: 刘红梅;尉国栋 申请(专利权)人: 山西大同大学
主分类号: G21H1/06 分类号: G21H1/06
代理公司: 14117 太原九得专利代理事务所(普通合伙) 代理人: 高璇
地址: 037009 山西省大同*** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 一维纳米线阵列 欧姆接触电极 碳化硅单晶 高掺杂 核电池 碳化硅 衬底 碳化硅材料 制备 能量转换效率 放射源层 微器件 半导体 背面
【权利要求书】:

1.一种基于碳化硅材料的微型核电池,其特征在于:包括:高掺杂碳化硅单晶衬底(101),所述高掺杂碳化硅单晶衬底(101)的正面具有碳化硅一维纳米线阵列(102),所述碳化硅一维纳米线阵列(102)具有PN结区域,所述碳化硅一维纳米线阵列(102)的PN结区域上面具有第一欧姆接触电极(103),所述第一欧姆接触电极(103)上具有放射源层(104),所述高掺杂碳化硅单晶衬底(101)的背面具有第二欧姆接触电极(105);

所述高掺杂碳化硅单晶衬底(101)为P型高掺杂4H-SiC单晶衬底;

所述碳化硅一维纳米线阵列(102)由所述P型高掺杂4H-SiC单晶衬底的正面生长而成;

所述PN结区域由所述碳化硅一维纳米线阵列(102)被进行N型掺杂而成;

所述第一欧姆接触电极(103)为呈叉指状的多层薄膜结构,且由下至上依次为Ti层、Ni层、Au层;

所述放射源层(104)的制作材料为同位素放射源;

所述第二欧姆接触电极(105)为多层薄膜结构,且由上至下依次为Ti层、Al层、Au层;

所述高掺杂碳化硅单晶衬底(101)为N型高掺杂4H-SiC单晶衬底;

所述碳化硅一维纳米线阵列(102)由所述N型高掺杂4H-SiC单晶衬底的正面生长而成;

所述PN结区域由所述碳化硅一维纳米线阵列(102)被进行P型掺杂而成;

所述第一欧姆接触电极(103)为呈叉指状的多层薄膜结构,且由下至上依次为Ti层、Al层、Au层;

所述放射源层(104)的制作材料为同位素放射源;

所述第二欧姆接触电极(105)为多层薄膜结构,且由上至下依次为Ti层、Ni层、Au层。

2.一种基于碳化硅材料的微型核电池的制备方法,其特征在于:包括:

S101、提供高掺杂碳化硅单晶衬底(101);

S102、采用高温熔盐电化学腐蚀工艺,在所述高掺杂碳化硅单晶衬底(101)的正面制备碳化硅一维纳米线阵列(102);

S103、采用离子注入工艺,对所述碳化硅一维纳米线阵列(102)进行半导体掺杂,得到基于碳化硅一维纳米线阵列(102)的PN结区域;

S104、采用磁控溅射工艺,在所述碳化硅一维纳米线阵列(102)的PN结区域表面沉积金属薄膜,形成第一欧姆接触电极(103);

在所述高掺杂碳化硅单晶衬底(101)的背面沉积金属薄膜,形成第二欧姆接触电极(105);

S105、采用电化学沉积工艺,在所述第一欧姆接触电极(103)上沉积放射源,形成放射源层(104);

S103步骤中,所述采用离子注入工艺,对所述碳化硅一维纳米线阵列(102)进行半导体掺杂,得到基于碳化硅一维纳米线阵列(102)的PN结区域,具体包括:

在600~700℃的温度下,从正面分别对所述碳化硅一维纳米线阵列(102)进行两次半导体离子注入,然后在Ar气的保护气氛下,在1300~1500℃的温度环境中退火10~20分钟,即可在所述碳化硅一维纳米线阵列(102)上获得PN结区域。

3.根据权利要求2所述的一种基于碳化硅材料的微型核电池的制备方法,其特征在于:S102步骤中,所述采用高温熔盐电化学腐蚀工艺,在所述高掺杂碳化硅单晶衬底(101)的正面制备碳化硅一维纳米线阵列(102),具体包括:

将所述高掺杂碳化硅单晶衬底(101)分别放入丙酮、乙醇、去离子水溶液中进行超声清洗,5~10分钟后取出;

然后放入具有铂片的400~600℃的高温电解液溶液中进行电化学腐蚀,电化学腐蚀过程中,所述高掺杂碳化硅单晶衬底(101)作为阳极,所述铂片作为阴极;

施加一定的电压,经过10~20分钟后,将所述高掺杂碳化硅单晶衬底(101)取出,冷却、清洗、干燥,即可获得所述高掺杂碳化硅单晶衬底(101)上的碳化硅一维纳米线阵列(102)。

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