[发明专利]一种软X射线掠入射望远镜角分辨率的检测方法

说明书

本发明实施例公开了一种软X射线掠入射望远镜角分辨率的检测方法。该软X射线掠入射望远镜角分辨率的检测方法通过设定的检测光路和计算方法，间接地进行软X射线掠入射望远镜角分辨率的检测，具有检测难度系数低且提高软X射线掠入射望远镜的研制效率优点。

技术领域

本发明涉及软X射线掠入射望远镜的技术领域，具体涉及一种软X射线掠入射望远镜角分辨率的检测方法。

背景技术

软X射线掠入射望远镜是进行空间天气预报的重要仪器。为保证软X射线掠入射望远镜在轨时能够获得清晰的观测图像，在发射升空之前，软X射线掠入射望远镜必须在地面进行角分辨率的检测。目前，软X射线掠入射望远镜的角分辨率检测都是在工作波段进行。这种方法需要建造庞大的检测设备，并且这种检测方法需要在真空中进行，这大大增加了软X射线掠入射望远镜的角分辨率的检测难度和成本。

因此，针对现有的软X射线掠入射望远镜的角分辨率检测方法存在难度高且成本大的问题，本发明实施例提出一种间接但快速的软X射线掠入射望远镜角分辨率的检测方法。

发明内容

针对现有的软X射线掠入射望远镜的角分辨率检测方法存在难度高且成本大的问题，本发明实施例提出一种软X射线掠入射望远镜角分辨率的检测方法。该检测方法通过设定的检测光路和计算方法，间接地进行软X射线掠入射望远镜角分辨率的检测，具有检测难度系数低且提高软X射线掠入射望远镜的研制效率优点。

本发明实施例中提供的一种软X射线掠入射望远镜角分辨率的检测方法的具体方案如下：一种软X射线掠入射望远镜角分辨率的检测方法包括：步骤S1：基于可见光波段的角分辨率检测光路系统，对软X射线掠入射望远镜进行成像检测，获得可见光波段的分辨率测试靶像；步骤S2：根据衍射光学原理获得用于计算软X射线掠入射望远镜在可见光波段和工作波段的衍射点扩散函数，再采用图像复原方法从所述可见光波段的分辨率测试靶像中去除孔径衍射效应，获得分辨率测试靶的几何像；步骤S3：采用表面轮廓仪测量望远镜的掠入射反射镜的表面功率谱密度，并基于所述表面功率谱密度和表面散射理论计算获得软X射线掠入射望远镜在工作波段的散射点扩散函数；步骤S4：将所述分辨率测试靶的几何像、所述工作波段的衍射点扩散函数和所述工作波段的散射点扩散函数进行卷积运算，获得工作波段的分辨率测试靶像；步骤S5：根据所述工作波段的分辨率测试靶像，获得能够相互分辨的线对，根据所述线对计算获得工作波段的角分辨率。

优选地，所述可见光波段的角分辨率检测光路系统包括：光源；透镜，设置在所述光源的前方，用于对所述光源发射的光进行聚焦作用；毛玻璃，设置在所述透镜的前方，用于使透过所述透镜的光束变得均匀；窄带滤光片，设置在所述毛玻璃的前方，用于对透过所述毛玻璃的光束进行滤光以获得准单色光；分辨率测试靶，设置在所述窄带滤光片的前方，所述分辨率测试靶被透过所述窄带滤光片的光束照亮，用于检测可见光波段的分辨率；平行光管，用于接收透过从所述分辨率测试靶上的光束并将所述光束平行化；软X射线掠入射望远镜角，设置在所述平行光管的前方，用于接收从所述平行光管中出射的光束并将所述光束进行会聚；CCD探测器，设置在所述软X射线掠入射望远镜的前方，用于接收从所述软X射线掠入射望远镜中出射的光束并形成可见光波段的分辨率测试靶像。

优选地，所述平行光管的焦距为3.75毫米，口径为250毫米，出射光的发散角度小于2″。

优选地，所述分辨率测试靶采用三条靶的分辨率测试靶。

优选地，所述CCD探测器的像元尺寸为6.5μm、像元数目为576×720。

优选地，所述光源采用钨灯。

优选地，所述步骤S2中的图像复原方法为将所述可见光波段的分辨率测试靶像与所述可见光波段的衍射点扩散函数进行多次迭代的反卷积运算。

优选地，采用均方误差判别法确定所述多次迭代的具体次数。