[发明专利]一种芯片复位电路、复位方法及MCU芯片

说明书

本发明涉及一种芯片复位电路、复位方法及MCU芯片，所述芯片复位电路包括：读取及校验电路，适于读取所述芯片的存储器，以获取所述存储器内存储的配置信息和校验信息，并利用所述校验信息校验所述配置信息，当校验失败时反复读取所述存储器并进行校验，直至所述配置信息全部校验成功；复位控制电路，适于在所述读取及校验电路校验失败时，生成芯片复位信号，所述芯片复位信号用于复位所述芯片的内部模块。本发明技术方案能够有效加载芯片配置信息。

技术领域

本发明涉及芯片设计技术领域，尤其涉及一种芯片复位电路、复位方法及MCU芯片。

背景技术

微控制器(Micro-Controller Unit，MCU)芯片的配置信息通常是预先存储于MCU芯片内部的，用于配置芯片功能模块以及芯片工作模式的全局性控制信息。当MCU芯片在上电复位后，芯片可以根据预先存储于芯片内部的配置信息，相应地配置芯片内部模块或者将芯片置于相应的工作模式。

现有的用于MCU芯片的配置信息加载的复位电路通常由模拟器件构成，该复位电路可以产生复位信号，对芯片进行复位，芯片根据该复位信号的状态，进行配置信息的加载。该复位电路对电源上电时序要求比较高，快速上电容易产生过窄的复位脉冲，无法有效的复位芯片，进而影响了配置信息的有效加载，导致芯片不能正常工作，可靠性差。另外，现有的用于MCU芯片的配置信息加载的复位电路在读取及校验配置信息后，如果由于校验失败导致配置信息无法有效加载，则芯片就会一直处于复位状态，导致芯片不能进入正常工作模式。

发明内容

本发明解决的技术问题是如何提供一种能够有效加载芯片配置信息的复位电路。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种芯片复位电路，所述芯片复位电路包括：读取及校验电路，适于读取所述芯片的存储器，以获取所述存储器内存储的配置信息和校验信息，并利用所述校验信息校验所述配置信息，当校验失败时反复读取所述存储器并进行校验，直至所述配置信息全部校验成功；复位控制电路，适于在所述读取及校验电路校验失败时，生成芯片复位信号，所述芯片复位信号用于复位所述芯片的内部模块。

可选的，所述芯片复位电路还包括：数据缓冲寄存器加载电路，适于在所述配置信息全部校验成功时，将所述配置信息和校验信息加载至所述芯片的数据缓冲寄存器。

可选的，所述芯片复位电路还包括：监控电路，适于监控所述数据缓冲寄存器中的配置信息和校验信息，并根据监控结果控制所述读取及校验电路是否重新读取所述存储器；若所述监控结果表明所述数据缓冲寄存器中的配置信息校验失败，则所述复位控制电路再次生成所述芯片复位信号，以复位所述芯片的内部模块；所述监控电路控制所述读取及校验电路重新读取所述存储器中的所述配置信息和校验信息。

可选的，所述配置信息包括用户配置信息和系统配置信息，所述存储器包括可擦写信息区和不可擦写信息区，所述用户配置信息存储于所述可擦写信息区，所述系统配置信息存储于所述不可擦写信息区。

可选的，所述校验信息与配置信息满足反码校验逻辑。

可选的，所述存储器为非易失性存储器。

为解决上述技术问题，本发明实施例还提供了一种MCU芯片，所述MCU芯片包括：存储器，以及前述的芯片复位电路。

为解决上述技术问题，本发明实施例还提供了一种芯片复位方法，所述芯片复位方法包括如下步骤：读取所述芯片的存储器，以获取所述存储器内存储的配置信息和校验信息，并利用所述校验信息校验所述配置信息；当校验失败时反复读取所述存储器并进行校验，直至所述配置信息全部校验成功，并且在校验失败时，生成芯片复位信号，所述芯片复位信号用于复位所述芯片的内部模块。

可选的，所述芯片复位方法还包括：当所述配置信息全部校验成功时，将所述配置信息和校验信息加载至所述芯片的数据缓冲寄存器。