[发明专利]一种像素电路数据信号补偿方法、装置及显示面板有效
| 申请号: | 201811145796.4 | 申请日: | 2018-09-29 |
| 公开(公告)号: | CN109119026B | 公开(公告)日: | 2020-06-23 |
| 发明(设计)人: | 陈燚;杨飞;孟松 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号: | G09G3/3225 | 分类号: | G09G3/3225;G09G3/3258 |
| 代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 付生辉 |
| 地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 像素 电路 数据 信号 补偿 方法 装置 显示 面板 | ||
1.一种像素电路数据信号补偿方法,所述像素电路包括开关单元、驱动晶体管、存储单元、发光单元和复位检测单元,其中,所述开关单元与扫描信号线、数据信号线和驱动晶体管分别连接,响应于扫描信号线的扫描信号而导通数据信号线和驱动晶体管;所述驱动晶体管的控制端与所述开关单元连接,第一端与输入电压端连接,第二端与第一节点连接,响应于数据信号线的数据信号而产生驱动电流;所述存储单元分别与驱动晶体管的控制端和第一节点连接,所述发光单元分别与第一节点和实时电压端连接;所述复位检测单元包括复位晶体管和第一电容器,所述复位晶体管的控制端与复位控制线连接,第一端与第一节点连接,第二端与第一电容器的第一端和感测信号线连接,第一电容器的第二端接地,其特征在于,
所述数据信号补偿方法包括:
将实时测试信号输入数据信号线,检测所述第一节点经过第一预设时间的实时电压,将所述实时电压与存储的预设电压比较,若所述实时电压与所述预设电压存在偏差,调整驱动晶体管迁移率的初始补偿值以使所述实时电压与所述预设电压一致,
其中,所述预设电压通过如下方法测定:
向数据信号线写入阈值测试信号得到驱动晶体管的初始阈值电压;
根据所述初始阈值电压形成补偿测试信号并输入数据信号线得到迁移率的初始补偿值;
根据所述初始阈值电压和所述初始补偿值形成实时测试信号并输入数据信号线,通过所述感测信号线感测经过第一预设时间的第一节点的第一电压作为所述预设电压。
2.根据权利要求1的像素电路数据信号补偿方法,其特征在于,向数据信号线写入阈值测试信号得到驱动晶体管的初始阈值电压具体包括:
向所述数据信号线输入阈值测试信号;
通过所述感测信号线感测所述第一节点在所述驱动晶体管截止时的截止电压;
根据所述阈值测试信号和所述截止电压得到驱动晶体管的初始阈值电压。
3.根据权利要求2的像素电路数据信号补偿方法,其特征在于,所述驱动晶体管的初始阈值电压Vth为
Vth=VG-VS1
其中,VG为所述阈值测试信号的电压值,VS1为所述截止电压的电压值。
4.根据权利要求1的像素电路数据信号补偿方法,其特征在于,根据所述初始阈值电压形成补偿测试信号并输入数据信号线得到迁移率的初始补偿值具体包括:
确定所述补偿测试信号Vdata1为
Vdata1=GL+Vth
其中,GL为固定值,Vth为驱动晶体管的初始阈值电压;
所述补偿测试信号输入时驱动晶体管产生的驱动电流i为
i=μ(Vdata1-Vth)2=μ(GL+Vth-Vth)2=μ(GL)2
其中,μ为驱动晶体管的初始迁移率;
检测得到经过时间间隔T2第一节点的第二电压,得到驱动晶体管的迁移率,根据预设标准迁移率得到迁移率的初始补偿值K
i=U2/T2
其中,μ0为标准迁移率,U2为第二电压。
5.根据权利要求4的像素电路数据信号补偿方法,其特征在于,
所述实时测试信号Vdata2为
其中,K为驱动晶体管的初始补偿值,α为定值,Vth为驱动晶体管的初始阈值电压;
所述实时测试信号输入时所述驱动晶体管的驱动电流为
所述第一电压为
则预设电压Tag1为
其中,T1为第一预设时间。
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