[发明专利]一种人工耳蜗内植器芯片功能测试平台在审
| 申请号： | 201811145248.1 | 申请日： | 2018-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN109091756A | 公开（公告）日： | 2018-12-28 |
| 发明（设计）人： | 周勇;高娜;吴拥真;贾贤浩;陈巧灵 | 申请（专利权）人： | 上海华聆人工耳医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | A61N1/372 | 分类号： | A61N1/372 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 翁惠瑜 |
| 地址： | 200436 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 待测芯片 发射线圈 实验平台 校准机构 三轴 人工耳蜗内植器 测试平台 芯片功能 固定座 读取 电路板 发射器 测试 安装方便 测试信号 定位机构 放电性能 固定发射 接收线圈 取样电阻 游标卡尺 运动调整 转接板 电阻 回读 测量 计算机 | ||
1.一种人工耳蜗内植器芯片功能测试平台，其特征在于，包括：
基座(11)；
实验平台(9)，固定于所述基座(11)上；
三轴校准机构，固定于所述基座(11)上，且位于所述实验平台(9)一端部；
发射线圈固定座(5)，用于固定发射线圈(12)，并通过一转接板(6)与所述三轴校准机构连接，由三轴校准机构的运动调整所述发射线圈固定座(5)的位置；
待测芯片定位机构，设置于所述实验平台(9)上，用于固定待测芯片(1)；
游标卡尺(4)，设置于所述实验平台(9)上，用于测量测试时待测芯片(1)的接收线圈与所述发射线圈(12)之间的距离；
测试信号发射器(13)，用于与发射线圈(12)连接；
取样电阻电路板(10)，用于与待测芯片(1)连接；
计算机(14)，用于实现放电性能的测试或回读电阻的读取。
2.根据权利要求1所述的人工耳蜗内植器芯片功能测试平台，其特征在于，所述基座(11)为金属基座。
3.根据权利要求1所述的人工耳蜗内植器芯片功能测试平台，其特征在于，所述实验平台(9)为塑料平台，与所述基座(11)间设有间隙。
4.根据权利要求1所述的人工耳蜗内植器芯片功能测试平台，其特征在于，所述三轴校准机构包括由下至上依次设置有Y轴调节旋钮、X轴调节旋钮(8)和Z轴调节旋钮(7)，所述转接板(6)固定于Z轴调节旋钮(7)上。
5.根据权利要求4所述的人工耳蜗内植器芯片功能测试平台，其特征在于，所述X轴调节旋钮(8)、Y轴调节旋钮和Z轴调节旋钮(7)的调节范围均为0～25mm。
6.根据权利要求1所述的人工耳蜗内植器芯片功能测试平台，其特征在于，所述发射线圈固定座(5)为一塑料座，其上设有用于安装发射线圈(12)的固定槽。
7.根据权利要求1所述的人工耳蜗内植器芯片功能测试平台，其特征在于，所述转接板(6)为金属转接板。
8.根据权利要求1所述的人工耳蜗内植器芯片功能测试平台，其特征在于，所述待测芯片定位机构包括夹具(2)和卡位板(3)。
9.根据权利要求1所述的人工耳蜗内植器芯片功能测试平台，其特征在于，所述待测芯片(1)通过一隔板设置于所述实验平台(9)上。
10.根据权利要求1所述的人工耳蜗内植器芯片功能测试平台，其特征在于，所述取样电阻电路板(10)通过电极模拟针头与待测芯片连接。
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