[发明专利]触控面板有效
申请号: | 201811142937.7 | 申请日: | 2018-09-28 |
公开(公告)号: | CN109117024B | 公开(公告)日: | 2022-02-25 |
发明(设计)人: | 袁廖杰;陈志忠;张嘉芝 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 黄艳 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 面板 | ||
一种触控面板,包括基板、多个电极组、多个第一接垫以及第二接垫。基板具有多个图标区域和引脚接合区域。多个电极组分别位于多个图标区域内,其中各电极组包括结构上彼此分离的第一电极及第二电极,多个电极组的第一电极彼此结构上相分离,且多个电极组的第二电极彼此结构上相分离。多个第一接垫位于引脚接合区域内,且分别与多个电极组的第一电极电性连接。第二接垫位于引脚接合区域内,且与多个电极组的第二电极电性连接。
技术领域
本发明涉及一种感测面板,且特别涉及一种触控面板。
背景技术
为了有效率地制作触控面板,在现行阵列制程(array process)中通常会先在同一片大片的基板上进行多个阵列触控元件的制作,并适时地于阵列制程中直接在大片基板上对每一阵列触控元件作回路测试后,才经由切割制程以得到各个触控面板。目前,为了提供固定的按键功能,触控面板中往往会配置有图标触控元件。然而,现有的线路布局却无法使图标触控元件在阵列制程阶段即在大片基板上进行回路测试。
发明内容
本发明提供一种触控面板,其可在切割制程之前于大片基板上对图标区域内的电极进行阻抗电性测试。
本发明的触控面板包括基板、多个电极组、多个第一接垫及一第二接垫。基板具有多个图标区域和引脚接合区域。多个电极组分别位于多个图标区域内,其中各电极组包括结构上彼此分离的第一电极及第二电极,多个电极组的第一电极彼此结构上相分离,且多个电极组的第二电极彼此结构上相分离。多个第一接垫位于引脚接合区域内,且分别与多个电极组的第一电极电性连接。第二接垫位于引脚接合区域内,且与多个电极组的第二电极电性连接。
基于上述,本发明的触控面板通过分别位于多个图标区域内的多个电极组各自包括结构上彼此分离的第一电极及第二电极,多个电极组中的第一电极彼此结构上相分离,多个电极组中的第一电极分别与多个第一接垫电性连接,多个电极组中的第二电极彼此结构上相分离,且多个电极组中的第二电极电性连接于第二接垫,使得触控面板可在切割制程之前于大片基板上经由多个第一接垫及第二接垫对图标区域内的第一电极及第二电极进行阻抗电性测试。
为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂,下文特举实施方式,并配合附图作详细说明如下。
附图说明
图1是依照本发明的一实施方式的触控面板的俯视图。
图2是图1中的区域k的放大图。
图3是图2中的剖线I-I’及剖线II-II’的剖面示意图。
图4A和图4B分别是可配置于主动区域中的触控电极的俯视图。
其中,附图标记说明如下:
10:触控面板
100:基板
110:电极组
112:第一电极
114:第二电极
120:第一接垫
122:第二接垫
130:第一检测垫
130R:第一检测区域
132:第二检测垫
132R:第二检测区域
140:第一信号线
142:第二信号线
142A:分支线段
142B:连接线段
a1、b1、a2、b2:边长
A:主动区域
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