[发明专利]一种高维涡旋光束拓扑荷值的检测方法在审

专利信息
申请号: 201811137103.7 申请日: 2018-09-28
公开(公告)号: CN109115336A 公开(公告)日: 2019-01-01
发明(设计)人: 高玮;金立伟;赵波 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42;G06T7/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150080 *** 国省代码: 黑龙江;23
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 拓扑 涡旋 高维 光强 测量 待测图像 时间成本 最大值点 像素点 检测 遍历 连线 人眼 观测 节约
【权利要求书】:

1.一种高维涡旋光束拓扑荷值的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤一,分别找到待测图像左右两半部分光强最大值点,并将这两点做连线;

步骤二,遍历直线上所有像素点的光强;

步骤三,寻找峰值,数出峰值的个数加一就是要测量的涡旋光束的拓扑荷数。

2.根据权利要求1所述的一种高维涡旋光束拓扑荷值的检测方法,其特征在于,所述步骤一具体包括以下步骤:

S201、待测图像由倾斜9°的焦距为30cm的平凸透镜得到并且光束分析仪距透镜距离为f*Zc/(Zc-f );

其中,f为平凸透镜焦距,Zc为激光从腔到平凸透镜所走过的光程;

S202、对待测图像进行灰度处理,得到图像尺寸[m,n];

其中,m为图像纵向高度上的像素值,n为图像横向宽度上的像素值;

S203、将待测图像按列分为左[:,1:n/2]、右[:,n/2+1:n]两半部分;

S204、在待测图像区域[:,1:n/2]内寻找最大值点坐标(x1,y1),在待测图像区域[:,n/2+1:n]内寻找最大值点坐标(x2,y2), 对(x1,y1)和(x2,y2)两个点做一条直线,求出直线参数k=(y2-y1)/(x2-x1),b=y1-k*x1;

其中,k为所求直线斜率,b为所求直线在y轴上的截距。

3.根据权利要求1所述的一种高维涡旋光束拓扑荷值的检测方法,其特征在于,所述步骤二具体包括以下步骤:

S301、若起始行x1序数大于终止行序数x2,将待测图像矩阵转置;

S302、x1为起始行,对应的起始列为round(k*x1+b);x2为终止行,对应的终止列为round(k*x2+b);

其中,round(X)函数表示返回X四舍五入后的整数值。

4.根据权利要求1所述的一种高维涡旋光束拓扑荷值的检测方法,其特征在于,所述步骤三具体包括以下步骤:

S401、循环体从起始行x1的下一行开始,到终止行x2上一行结束,如果某一像素点的光强值比其左右两像素点光强值大,即认为此点为峰值点;

S402、循环体从起始行x1的下一行开始,到终止行x2上一行结束,如果某一像素点的光强值比其左右两像素点光强值小,即认为此点为谷值点;

S403、若谷值数比峰值数多一,则拓扑荷数检测无误。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨理工大学,未经哈尔滨理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811137103.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top