[发明专利]V棱镜折光仪及测试光学材料对波长852.1nm光的折射率的方法

说明书

本发明属于光学材料测试技术领域，具体公开了一种V棱镜折光仪及测试光学材料对波长852.1nm光的折射率的方法，旨在解决现有的V棱镜折光仪难以测试光学材料对波长852.1nm光的折射率的问题。该V棱镜折光仪所具有的平行光管物镜和望远镜物镜，能够使得光学材料对波长852.1nm光的折射率进行测试时波长为852.1nm的不可见光平行光管发出保持平行，并采用了可见光及近红外兼容的CCD对平行光管的分划板像进行接收，因此保证接收到的平行光管的分化板像清晰，进而准确测出光束从V棱镜最后一面出射时的偏折角，从而计算出所测光学材料对波长为852.1nm的不可见光的折射率，测试结果准确，且效率较高。

技术领域

本发明属于光学材料测试技术领域，具体涉及一种V棱镜折光仪及测试光学材料对波长852.1nm光的折射率的方法。

背景技术

测试光学材料对波长852.1nm不可见光的折射率对监控领域及日夜共焦系统非常重要。利用V棱镜折光仪测试光学材料的折射率是本领域最常用的折射率测试方式。然而，从V棱镜折光仪的使用及光学设计理念来说，其设计是围绕着可见光的中间波长587.6nm来进行的，工作适用范围是波长为404.7nm～706.5nm的可见光。若采用现有的V棱镜折光仪测试光学材料对波长852.1nm不可见光的折射率，想要保证工作的准确很困难，也即很难使波长为852.1nm的不可见光在平行光管发出保持平行，也很难使接收的平行光管的分化板像清晰。

目前，测试光学材料对波长852.1nm不可见光的折射率需要利用测角仪进行测量。但是，测角仪对测试样品的规格要求较高，加工该规格的测试样品一般需要花费3～4天时间，因此无法满足日常生产的光学材料对波长852.1nm不可见光的折射率的测试需要。此外，对于精密压型的光学元件是无法按测角仪测试样品尺寸进行加工的，因此利用测角仪无法对其测量。

发明内容

本发明提供了一种V棱镜折光仪，旨在解决现有的V棱镜折光仪难以测试光学材料对波长852.1nm光的折射率的问题。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：V棱镜折光仪，包括平行光管物镜和望远镜物镜，还包括可见光及近红外兼容的CCD；

所述平行光管物镜和望远镜物镜组成的物镜系统在测试波长为706.5nm的可见光及波长为852.1nm的不可见光时，能够满足光学材料折射率测试对光的平行性要求；

所述CCD用于接收平行光管的分划板像。

本发明还提供了一种测试光学材料对波长852.1nm光的折射率的方法，旨在解决现有利用测角仪测试光学材料对波长852.1nm不可见光的折射率的效率较低的问题。

测试光学材料对波长852.1nm光的折射率的方法，该方法采用V棱镜折光仪进行测试，包括下列步骤：

步骤一，重新设计平行光管物镜和望远镜物镜，使得新设计的平行光管物镜和望远镜物镜组成的物镜系统在测试波长为706.5nm的可见光及波长为852.1nm的不可见光时，能够满足光学材料折射率测试对光的平行性要求；

步骤二，先将新设计的平行光管物镜和望远镜物镜安装到V棱镜折光仪上，替换掉V棱镜折光仪上原有的平行光管物镜和望远镜物镜；然后，利用波长为706.5nm的红光对替换后的V棱镜折光仪进行调试，使分划板位置准确位于平行光管物镜的焦点上，并调节目镜使望远镜物镜接收到的红光的分划板像清晰；

步骤三，将可见光及近红外兼容的CCD安装到调试好的V棱镜折光仪上，使用CCD接收平行光管的分划板像；

步骤四，将测试样品放置到安装了CCD的V棱镜折光仪的V棱镜上，利用波长为852.1nm的不可见光对测试样品进行测试，得到光束从V棱镜最后一面出射时的偏折角θ；利用以下公式计算出测试样品对波长为852.1nm的不可见光的折射率n；

公式：