[发明专利]测量荧光量子产率的方法及装置

说明书

本发明提供了一种测量荧光量子产率的方法及装置，该方法包括：获取第一发射荧光光子和剩余光子数，第二发射荧光光子和剩余光子数，第三发射荧光光子和剩余光子数，第四发射荧光光子和剩余光子数；根据第二发射荧光光子和剩余光子数，第四发射荧光光子和剩余光子数，确定匀化吸收率；根据匀化吸收率，第一发射荧光光子和剩余光子数，第三发射荧光光子和剩余光子数，确定直射吸收率；根据第一发射荧光光子和剩余光子数，直射吸收率，确定待测样品吸收激发光光子数；根据第三发射荧光光子和剩余光子数，第四发射荧光光子和剩余光子数，匀化吸收率，直射吸收率，确定样品所发射荧光光子数；确定荧光量子产率。上述方案提高了测量荧光量子产率的准确度。

技术领域

本发明涉及荧光量子产率测量技术领域，特别涉及一种测量荧光量子产率的方法及装置。

背景技术

荧光量子产率是指荧光物质吸光后所发射的荧光的光子数与所吸收的激发光的光子数的比值，因此，在测试荧光量子的时候，要准确测量出发射的荧光的光子数和吸收的激发光的光子数。目前，测量荧光量子产率的系统包括激发光源及其光路、积分球(内置样品架)及其他可以把光进行匀化的装置、信号收集光路、色散器、探测器和A/D转换器、软件和电脑等单元组成，测试前使用标准灯对系统进行响应度校正。然而，目前测量荧光量子产率的方案存在确定发射荧光的光子数和吸收激发光的光子数不准确的问题，从而导致最终测量的荧光量子产率不准确。

发明内容

本发明实施例提供了一种测量荧光量子产率的方法，用以提高测量荧光量子产率的准确度，该方法包括：

获取第一发射荧光光子数和第一剩余光子数，第二发射荧光光子数和第二剩余光子数，第三发射荧光光子数和第三剩余光子数，以及第四发射荧光光子数和第四剩余光子数；其中，所述第一发射荧光光子数和第一剩余光子数为按照如下四步法测量过程的第一步得到的光子数：使激发光打在参考样品上，根据从积分球出口采集的激发光和荧光得到的发射荧光的光子数和激发光经过积分球后剩余的光子数；所述第二发射荧光光子数和第二剩余光子数为按照如下四步法测量过程的第二步得到的光子数：使激发光不打在参考样品上，根据从积分球出口采集激发光和荧光得到的发射荧光的光子数和激发光经过积分球后剩余的光子数；所述第三发射荧光光子数和第三剩余光子数为按照如下四步法测量过程的第三步得到的光子数：使激发光打在待测样品上，根据从积分球出口采集激发光和荧光得到的发射荧光的光子数和激发光经过积分球后剩余的光子数；所述第四发射荧光光子数和第四剩余光子数为按照如下四步法测量过程的第四步得到的光子数：使激发光不打在待测样品上，根据从积分球出口采集激发光和荧光得到的发射荧光的光子数和激发光经过积分球后剩余的光子数；

根据所述第二发射荧光光子数和第二剩余光子数，以及第四发射荧光光子数和第四剩余光子数，确定待测样品的匀化吸收率；

根据所述匀化吸收率，第一发射荧光光子数和第一剩余光子数，以及第三发射荧光光子数和第三剩余光子数，确定待测样品的直射吸收率；

根据第一发射荧光光子数和第一剩余光子数，以及所述直射吸收率，确定待测样品所吸收激发光的光子数；

根据第三发射荧光光子数和第三剩余光子数，第四发射荧光光子数和第四剩余光子数，匀化吸收率以及直射吸收率，确定待测样品所发射荧光的光子数；

根据待测样品所吸收激发光的光子数，以及待测样品所发射荧光的光子数，确定荧光量子产率。

本发明实施例还提供了一种测量荧光量子产率的装置，用以提高测量荧光量子产率的准确度，该装置包括：