[发明专利]一种快速相位解包裹算法在审

专利信息
申请号: 201811112695.7 申请日: 2018-09-25
公开(公告)号: CN109141291A 公开(公告)日: 2019-01-04
发明(设计)人: 伏燕军;王霖;韩旭 申请(专利权)人: 南昌航空大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 南昌洪达专利事务所 36111 代理人: 何磊
地址: 330000 江*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 算法 求解 条纹 相位解包裹 包裹相位 快速相位 相移 连通域标记 相移条纹图 绝对相位 三维测量 三维重建 相位恢复 正弦条纹 正弦 制作 投影
【权利要求书】:

1.一种快速相位解包裹算法,其特征在于:

利用N步相移算法求解包裹相位;利用N幅正弦条纹图制作Mask;利用包裹相位和连通域标记算法求解条纹级次;根据条纹级次进行相位解包裹获得用于三维重建的绝对相位。

2.根据权利要求1所述一种快速相位解包裹算法,其特征在于,绝对相位求解方法,相机采集经待测物体调制后的N幅正弦相移条纹图,其光强分布如下:

公式(1)中,Ik(x,y)为相机采集的正弦相移条纹图中像素坐标为(x,y)的光强,I'(x,y)为平均灰度,I”(x,y)为条纹幅值,为待求物体包裹相位,为相移大小。

3.根据权利要求2所述一种快速相位解包裹算法,其特征在于,绝对相位求解方法,利用N步相移算法求解包裹相位,求解方法如公式(2)所示:

4.根据权利要求3所述一种快速相位解包裹算法,其特征在于,绝对相位求解方法,制作Mask的过程如下所示:

首先对相机采集到的N幅正弦相移条纹图进行求和,取平均值,利用公式(3)计算得到平均灰度:

然后利用公式(4)将平均灰度图做二值化图像处理,得到用于分割物体相位区域、消除背景的Mask;

Imask(x,y)=im2bw[I'(x,y)] (4)。

5.根据权利要求3或4所述一种快速相位解包裹算法,其特征在于,绝对相位求解方法,求解条纹级次K的方法如下所示:

由公式(2)反正切函数求解得到的包裹相位被限制在[-π,π],首先,我们对包裹相位分别按公式(5)和公式(6)进行正反两次二值化处理,分别得到两个相反的二值化结果和

然后,将上述二值化后的结果和分别与Mask卷积,得到卷积后的结果和如公式(7)和公式(8)所示:

接着,利用连通域标记算法来确定条纹级次;我们使用MATLAB图像处理工具箱的bwlabel函数分别标记和图像的连通域,该函数本质上是标记二维二值图像中的连通域;第一步,先用bwlabel函数标记就可以得到第一个初始连通域标记值Kright(x,y),它对应为每个条纹级次的右半部分,其左半部分为零,如公式(9)所示:

第二步,同样用bwlabel函数标记就可以得到第二个初始连通区域标记值Kleft(x,y),它对应为每个条纹级次的左半部分,其右半部分为零,如公式(10)所示:

得到这两个初始标记值,就可以利用公式(11)将这两个值逐像素对应相加合并,计算得到完整的条纹级次;

K(x,y)=Kright(x,y)+Kleft(x,y) (11)。

6.根据权利要求5所述一种快速相位解包裹算法,其特征在于,绝对相位求解方法,根据条纹级次进行相位解包裹的方法如下所示:

一旦求得条纹级次K,物体的绝对相位Φ(x,y)就可以通过公式(12)求得:

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