[发明专利]集成电路半定制物理设计贯穿信号线高效复用方法

说明书

本发明公开了一种集成电路半定制物理设计贯穿信号线高效复用方法，包括以下步骤。步骤S1：获得原始设计数据并且验证该原始设计数据的完整性和正确性。步骤S2：将复用模块内的多个子模块替换为相同的母版子模块。步骤S3：当复用模块内的贯穿线的间距小于指定间距时，调整子模块的位置以减少穿过复用模块的贯穿线的数量。步骤S4：当复用模块内的贯穿线具有相同的连接关系时，将上述独立的贯穿线进行复用调整，以完成贯穿线的最短距离连接。本发明公开的集成电路半定制物理设计贯穿信号线高效复用方法，有效地提高贯穿信号线的复用效率，避免无效工作和减少设计迭代次数，最终缩短整个芯片设计周期。

技术领域

本发明属于集成电路设计自动化技术领域，具体涉及一种集成电路半定制物理设计贯穿信号线高效复用方法。

背景技术

随着集成电路芯片的规模日趋庞大，不得不采用自上向下的设计方法将芯片分割成不同的子模块加以设计。为了降低设计难度，子模块有必要引入复用技术，使得时序路径的不同部分可能被分布在相同的子模块中。

参见附图的图4，然而，常规设计方法下会导致FeedThrough由于复用子模块的连接关系但不能复用FeedThrough而消耗大量的设计资源，从而导致设计结果差和设计周期长等问题，最终导致项目的开发周期延迟甚至无法接受。目前，在常规的FeedThrough设计方法里还没有一种有效的通用方法来提高FeedThrough设计的结果质量，但却是目前半定制后端设计现状中需要迫切解决的技术难题。

发明内容

本发明针对现有技术的状况，克服上述缺陷，提供一种集成电路半定制物理设计贯穿信号线高效复用方法。

本发明采用以下技术方案，所述集成电路半定制物理设计贯穿信号线高效复用方法包括以下步骤：

步骤S1：获得原始设计数据并且验证该原始设计数据的完整性和正确性；

步骤S2：将复用模块内的多个子模块替换为相同的母版子模块；

步骤S3：当复用模块内的贯穿线的间距小于指定间距时，调整子模块的位置以减少穿过复用模块的贯穿线的数量；

步骤S4：当复用模块内的贯穿线具有相同的连接关系时，将上述独立的贯穿线进行复用调整，以完成贯穿线的最短距离连接。

根据上述技术方案，步骤S1具体包括以下步骤：

步骤S1.1：从多个数据源获取原始设计数据；

步骤S1.2：进行原始设计数据的完整性检查；

步骤S1.3：判断原始设计数据的正确性，如果判断通过则执行步骤S2，否则执行步骤S1.1。

根据上述技术方案，步骤S1.1中，上述数据源包括DEF文件、子模块连接关系文件、中继器指导文件和配置和调整文件。

根据上述技术方案，所述子模块连接关系文件用于提供贯穿信号线自动规划的连接依据。

根据上述技术方案，所述中继器指导文件用于提供自动规划力度控制的参考依据。

根据上述技术方案，所述配置和调整文件用于设置内部计算和优化策略。

本发明公开的集成电路半定制物理设计贯穿信号线高效复用方法，其有益效果在于，有效地提高贯穿信号线的复用效率，避免无效工作和减少设计迭代次数，最终缩短整个芯片设计周期。

附图说明

图1是本发明优选实施例的系统流程图。

图2是本发明优选实施例的获得数据步骤的流程图。

图3是本发明优选实施例的当引入复用技术时多个子模块由一个母版子模块替换的示意图。