[发明专利]开关电器触点剩余寿命计算方法及检测装置、接触器

说明书

本发明涉及低压电器领域，具体涉及一种开关电器触点剩余寿命计算方法，其采集开关电器的接触电阻，并对得到的接触电阻数据进行线性回归，依据线性回归线得到初始内阻r_c和当前内阻r_n，依据初始内阻r_c、当前内阻r_n和开关电器整个生命周期的内阻变化量Δr，计算得出开关电器触点剩余寿命，本发明的方法简单，属于直接测量法，结果准确，通用性好，易普及；还涉及一种开关电器触电剩余寿命的检测装置，其结构简单，检测结果可靠性高；还涉及一种接触器，其结构简单，检测结果可靠性高。

技术领域

本发明涉及低压电器领域，具体涉及一种开关电器触点剩余寿命计算方法，可用于预测开关电器的电气寿命，开关电器可以是接触器或断路器，还涉及一种应用上述计算方法的检测装置，还涉及一种应用上述计算方法的接触器。

背景技术

当前工业应用领域的电气化水平越来越高，对供配电系统及其元器件的可靠性要求越来越高。在现有的开关电器中，接触器作为控制器件需要频繁带电执行动作，其电气寿命要求较高，一般达到上百万次。接触器作为供配控制系统中的重要元件，其在运行过程中出现故障等安全事故，将严重危及用电安全。若能提前预知接触器的电气寿命并指示，将大大降低或避免故障，减少经济损失。在实际使用过程中，接触器的运行工况和试验工况存在差异，其标称电寿命并非其实际使用过程中的电寿命次数，存在较大差异。

当前接触器产品的电寿命指示一般都是对触头组的磨损量的计算来反映剩余寿命，其分为直接测量和间接测量两种：

1.直接测量就是通过结构设计实现对触头组剩余量的指示，该方法一方面需要在结构设计上进行较大的改动，另一方面该方法不能反映触头组的接触状况，如粒子粘连造成磨损量的误判。

2.间接测量一般都是通过测定接触器动静电磁铁分离与最先分离触头组间的时间间隔来间接反映触头组的剩余超程，即触头组的剩余量。该间接测量方法对于直流电压控制的电磁铁能较好的反映超程剩余量，但对于交流电压控制的电磁铁还存在控制电压相角造成时间间隔的偏差问题。另一间接测量方法是能量累积法，能量累积到一定阀值即寿命终止，该方法计算量大对硬件要求较高，且和具体产品结构相关性很大。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种开关电器触点剩余寿命计算方法，其计算结果可靠性高，简单易行；还提供一种应用该计算方法的开关电器触点剩余寿命检测装置和接触器，其结构简单，检测结果可靠性高。

为实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

一种开关电器触点剩余寿命计算方法，其包括以下步骤：

步骤一：获取开关电器的接触电阻值；

步骤二：获取多个接触电阻值后，对当前获得的接触电阻值数据进行线性回归处理，得到接触电阻线性回归曲线；

步骤三：依据接触电阻回归曲线，计算开关电器的初始内阻r_c和当前内阻r_n；

步骤四：已知开关电器在整个生命周期内的内阻变化量为Δr，则触点剩余寿命L＝(r_n-r_c)*100％/Δr。

优选的，步骤一中，每次开关电器闭合后，获取开关电器的电压U和电流I，依据电压U和电流I，计算接触电阻值。

优选的，每次开关电器闭合后，在时间t内，持续采集开关电器的电压U和电流I，t＞0。

优选的，获取开关电器的电压U和电流I时，分别对所述采集的电压U和电流I进行滤波处理。

优选的，所述开关电器连接在直流电回路时，电压U和电流I分别为t时间内各自的均值。