[发明专利]一种卡规自动测量系统及方法

说明书

本发明公开了一种卡规自动测量系统及方法，包括夹具装置，用于夹持测量卡规，并将测量卡规固定在测量位；三坐标测量机，与所述夹具装置连接，并根据操作指令开始测量工作；所述三坐标测量机包括判断装置和储存装置，所述判断装置，用于接收三坐标测量机测量数据，分析测量数据是否合格，并将分析结果传输给储存装置或三坐标测量机；所述储存装置，与所述判断装置连接，用于储存测量数据，本发明所述的一种卡规自动测量系统能极大的缩短测量的时间，提高测量工作的质量，另外测量系统稳定，操作方便，大大提高了卡规的测量效率。

技术领域

本发明涉及计量领域，特别涉及一种卡规自动测量系统及方法。

背景技术

在我国装备制造业快速发展的今天，卡规在机械产品制造中，特别是大批量机械加工生产线上，已经得到了非常广泛的应用，随着产品品质的不断提升，用卡规自身的要求也越来越高，并且对卡规的需要也越来越大。因此在实际工作中对卡规送检量也日益增加，卡规的测量占用了社会上越来越多的检测资源，这引起了我们对卡规测量的重视，需要更高效地检测手段和方法。目前国内对于卡规的研究，有介绍卡规原理、结构及尺寸检验等基础知识的，有用计算机辅助设计公差带的，有设计快速测量装置的，但是针对卡规的自动测量，却研究甚少。

卡规的结构及尺寸大同小异，其测量过程重复程度很高，但细微的差距也会影响卡规的质量和使用。由于卡规的测量工具是使用测长机等仪器的原因，会使卡规的测量速度很慢，会占用很大部分的工作时间，因此测量效率和成本都比较大。结合社会上现有的测量设备，本发明人决定采用超高精度三坐标测量机来进行卡规的测量，以期提高测量效率，考虑到当前现有测量方法的局限性，目前缺少适用的测量系统来实现卡规的自动测量，因此本发明提供的一种卡规自动测量系统很好的解决了这个问题。

发明内容

针对现有技术的上述问题，本发明的目的在于，提供一种卡规自动测量系统及方法，解决使用超高精度三坐标测量机进行卡规测量的问题。

为了解决上述技术问题，本发明的具体技术方案如下：

一种卡规自动测量系统，包括：

夹具装置，用于夹持测量卡规，并将测量卡规固定在测量台面上；

三坐标测量机，与所述夹具装置连接，用于根据操作指令开始测量工作；

所述三坐标测量机包括判断装置和储存装置，

判断装置，用于接收三坐标测量机测量数据，分析测量数据是否合格，并将分析结果传输给储存装置或三坐标测量机；

储存装置，与所述判断装置连接，用于储存测量数据。

进一步地，所述三坐标测量机还包括传感机构、控制机构和测量机构，所述传感机构，用于采集测量卡规信息，并将采集信息传递给控制机构；所述控制机构，用于接收传感机构传递的信号，并控制三坐标测量机进行测量；所述驱动机构，用于接收控制机构的测量指令，驱动测量机构工作；所述测量机构，用于对测量卡规进行测量，得到测量卡规数据信息。

进一步地，所述判断装置具体包括，分析单元，用于根据测量数据与预设的规格参数进行对比是否一致，判断测量数据是否合格；信息输送单元，用于根据分析单元的分析结果，将合格测量值输送到储存装置中，将不合格测量值信息输送到选择单元；选择单元，用于根据信息输送单元的输送信号，用户选择返回三坐标测量机重新测量或输送到储存装置中。

进一步地，所述三坐标测量机还包括显示装置，分别与判断装置和储存装置连接，用于显示测量过程的信息。

具体地，所述显示测量过程的信息包括测量卡规的规格的信息和测量结果的信息。

本发明基于以上系统还提供了一种卡规自动测量系统的卡规自动测量方法：

一种卡规自动测量方法，包括：

获取测量卡规信息；