[发明专利]X射线检查装置有效

专利信息
申请号: 201811102282.0 申请日: 2018-09-20
公开(公告)号: CN109540931B 公开(公告)日: 2023-05-23
发明(设计)人: 长谷川功;菅野淳;畠山卓也 申请(专利权)人: 世高株式会社
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 射线 检查 装置
【权利要求书】:

1.一种X射线检查装置,其拍摄被检查物的X射线透射图像,将该被检查物输送到具有多个处理位置的下游处理部,该X射线检查装置的特征在于具备:

X射线照射部,其向检查对象区域的被检查物照射X射线;

X射线检测部,其对透过了所述被检查物的X射线进行检测;

输送机构,其将所述被检查物经由所述检查对象区域输送到所述下游处理部的多个处理位置中的某一个处理位置;

显示部,其具有与所述多个处理位置分别对应的多个显示区域;

控制部,其进行如下控制:使用所述X射线检测部对X射线的检测结果来生成所述被检查物的X射线透射图像,确定在哪一个处理位置对所述被检查物进行处理,在与确定出的处理位置对应的显示区域显示所述被检查物的X射线透射图像;以及

分配请求单元,其与所述多个处理位置分别对应地设置,接受请求针对各个处理位置的下一个被检查物的分配的分配请求,

其中,所述控制部进行以下控制:按照从所述多个处理位置接受到被检查物的分配请求的顺序,将与接受到分配请求的所述分配请求单元对应的处理位置确定为输送目的地的处理位置,通过所述输送机构将所述被检查物分配到该确定出的处理位置,并且在与该确定出的处理位置对应的显示区域显示所述被检查物的X射线透射图像。

2.根据权利要求1所述的X射线检查装置,其特征在于,

在所述多个处理位置中的各个处理位置具备传感器,该传感器用于探测所述被检查物是否已被输送到,

所述控制部进行如下控制:根据设置于该确定出的处理位置的所述传感器探测出所述被检查物已被输送到,来在与该确定出的处理位置对应的显示区域显示所述被检查物的X射线透射图像。

3.根据权利要求1或2所述的X射线检查装置,其特征在于,

所述控制部基于所生成的X射线透射图像来判定所述被检查物是否合格,仅针对判定为不合格的所述被检查物确定将所述被检查物向哪一个处理位置输送,通过所述输送机构将所述被检查物分配到该确定出的处理位置。

4.根据权利要求1所述的X射线检查装置,其特征在于,

与所述多个处理位置中的各个处理位置对应地设置有移动探测单元,该移动探测单元探测所述被检查物向该处理位置的移动,

所述输送机构将所述被检查物经由所述检查对象区域输送到所述多个处理位置的附近,

所述控制部进行如下控制:基于所述移动探测单元的探测结果来确定在哪一个处理位置对所述被检查物进行处理,在与该确定出的处理位置对应的显示区域显示所述被检查物的X射线透射图像。

5.根据权利要求4所述的X射线检查装置,其特征在于,

所述移动探测单元是接受作业者的操作的开关。

6.根据权利要求4所述的X射线检查装置,其特征在于,

所述移动探测单元是用于探测所述被检查物是否已被移动到各处理位置的传感器。

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