[发明专利]阈值电压侦测电路及侦测方法

说明书

本发明提供了一种阈值电压侦测电路，其中，该阈值电压侦测电路包括：第一开关(SW_R)，其一端与待侦测器件的一端连接，第一开关(SW_R)在侦测模式中的预充电时导通；侦测线(Sen)，其一端与第一开关(SW_R)的所述一端连接，用于在第一开关(SW_R)导通时，向待侦测器件写入预充电压；采样电容(Cc)，在侦测线(Sen)的寄生电容(Cp)放电完成时与侦测线(Sen)的所述一端连通，用于采集待侦测器件的阈值电压。上述阈值电压侦测电路由第一开关(SW_R)、侦测线(Sen)以及采样电容(Cc)构成，仅通过对侦测线的控制便可实现阈值电压的侦测，侦测电路简单。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种阈值电压侦测电路及阈值电压侦测方法、而且还涉及亮度补偿电路、亮度补偿方法以及显示面板。

背景技术

AMOLED(Active Matrix Organic Light Emitting Diode，有机发光二极管)平板显示屏采用有机材料制作发光器件，而且器件流过较大电流。显示屏经过长时间使用，不可避免地造成OLED器件劣化，OLED器件的阈值电压发生变化，发光效率降低，进而使得显示屏亮度下降和长期残像。针对上述不足，可以采用OLED器件阈值电压侦测电路对OLED器件的阈值电压进行侦测，根据侦测后的器件阈值电压对OLED器件进行补偿，避免了OLED器件阈值电压变化造成的显示屏亮度下降和长期残像的问题。

现有技术中，通常OLED显示屏应用于消费领域，对OLED的寿命要求不是很高，由于器件漏电、补偿运算复杂等原因，使得侦测OLED器件阈值电压会显著增加成本；故现有技术中通常不对OLED器件的阈值电压进行侦测；但在对OLED器件寿命和残像要求较高的领域(如车载或者工控领域)，需要对OLED器件的阈值电压进行侦测，然而，现有技术中OLED器件的阈值电压侦测电路对OLED器件的阈值电压进行侦测的过程较复杂，控制难度大，亟待解决。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种控制方式简单的OLED阈值电压侦测电路、侦测方法、亮度补偿电路、亮度补偿方法以及显示面板。

为此，本发明提供如下技术方案：

本发明第一方面，提供一种阈值电压侦测电路，包括：第一开关，其一端与待侦测器件的一端连接，所述第一开关在侦测模式中的预充电时导通；侦测线，其一端与所述第一开关的所述一端连接，用于在所述第一开关导通时，向所述待侦测器件写入预充电压；采样电容，在所述侦测线的寄生电容放电完成时与所述侦测线的所述一端连通，用于采集所述待侦测器件的阈值电压。

可选地，所述侦测线与扫描线或电源线交叠形成所述寄生电容。

可选地，所述侦测线的寄生电容用于在所述侦测时段内向所述待侦测器件提供电荷，以使所述电荷流经所述待侦测器件直至所述寄生电容的电压与所述待侦测器件的另一端的电压和所述待侦测器件阈值电压之和相等。

可选地，还包括：第二开关，其一端与所述侦测线的所述一端连接，其另一端与所述采样电容连接，用于控制所述采样电容与所述侦测线的连通。

可选地，还包括：A/D转换器，与所述采样电容连通，在所述采样电容采样完成时，用于将所述采样电容采集到的所述待侦测器件的阈值电压进行A/D转换。

可选地，还包括：第三开关，其一端与所述采样电容连接，其另一端与所述A/D转换器连接，用于控制所述A/D转换器与所述采样电容的连通。

可选地，所述待侦测器件为OLED。