[发明专利]一种显示屏的Mura现象补偿方法和装置有效

专利信息
申请号: 201811095096.9 申请日: 2018-09-19
公开(公告)号: CN109036275B 公开(公告)日: 2020-06-19
发明(设计)人: 罗竹;申丽霞;唐伟 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司
主分类号: G09G3/3208 分类号: G09G3/3208
代理公司: 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 代理人: 李莎
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 显示屏 mura 现象 补偿 方法 装置
【说明书】:

发明公开了一种显示屏的Mura现象补偿方法和装置,所述方法包括:拍摄所述显示屏的第一灰阶值和第二灰阶值的灰阶画面;根据每个灰阶画面中各像素的光强度数据,计算每个像素的伽马指数值;根据各像素的伽马指数值以指数或幂函数方式计算各像素的Mura数据;根据计算得到的Mura数据进行Mura现象补偿。应用本发明可以获得较好的Mura现象补偿效果,优化显示效果。

技术领域

本发明涉及显示技术领域,特别是指一种显示屏的Mura现象补偿方法和装置。

背景技术

OLED(有机发光二极管,Organic Light-Emitting Diode)作为一种电流型发光器件已越来越多地被应用于高性能显示中。由于它自发光的特性,与LCD相比具有高对比度、超轻薄等诸多优点。但是,亮度均匀性和残像仍然是它目前面临的两个主要难题,要解决这两个问题,除了工艺的改善,就不得不提到补偿技术。补偿方法可以分为内部补偿和外部补偿两大类。内部补偿是指在像素内部利用TFT(Thin Film Transistor,薄膜晶体管)构建的子电路进行补偿的方法。外部补偿是指通过外部的驱动电路或设备感知像素的电学或光学特性然后进行补偿的方法。

外部补偿根据数据抽取方法的不同又可以分为光学抽取式和电学抽取式。光学抽取式是指将背板点亮后通过光学CCD(电荷耦合器件图像传感器,Charge Coupled Device)照相的方法将亮度信号抽取出来,电学抽取式是指通过驱动芯片的感应电路将TFT和OLED的电学信号抽取出来。

两种方法抽取的信号种类不同,因此数据处理的方式也不同。光学抽取的方式具有结构简单,方法灵活的优点,因此在现阶段被广泛采用,即为我们平时所说的Demura。Mura一词源于日本,原意指亮暗不均,后扩展至面板上任何人眼可识别的颜色差异。

Demura补偿方法通常是通过高分辨率和高精度的CCD照相机拍摄数个灰阶画面;进而根据照相机采集的数据分析显示画面中像素颜色分布特征,并根据相关算法识别出Mura;根据Mura数据及相应的Demura补偿算法产生Demura数据即Mura补偿数据;将Demura数据烧录到Flash ROM中,用以在显示画面时利用其进行Mura补偿。

本发明的发明人发现,利用现有的Demura补偿算法产生的Demura数据进行补偿时效果不佳,也就是说去除Mura的效果不佳。

发明内容

有鉴于此,本发明的目的在于提出一种显示屏的Mura现象补偿方法和装置,获得较好的Mura现象补偿效果,优化显示效果。

基于上述目的本发明提供一种显示屏的Mura现象补偿方法,包括:

拍摄所述显示屏的第一灰阶值和第二灰阶值的灰阶画面;

根据每个灰阶画面中各像素的光强度数据,计算每个像素的伽马指数值;

根据各像素的伽马指数值以指数或幂函数方式计算各像素的Mura数据;

根据计算得到的Mura数据进行Mura现象补偿。

其中,所述根据各像素的伽马指数值以指数函数方式计算各像素的Mura数据,具体包括:

根据如下计算式四、五分别计算得到第一、二灰阶值的灰阶画面中各像素的Mura数据:

mura_1=255.*(L1).^(1/|G–2.2|) (计算式四)

mura_2=255.*(L2).^(1/|G–2.2|) (计算式五)

其中,mura_1表示第一灰阶值的灰阶画面中各像素的Mura数据的矩阵,mura_2表示第二灰阶值的灰阶画面中各像素的Mura数据的矩阵;L1为第一灰阶值的灰阶画面中各像素的光强度数据矩阵;L2为第二灰阶值的灰阶画面中各像素的光强度数据矩阵,G表示各像素的伽马指数值组成的矩阵。

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